艾克思科技 0~100A1200V MOS管综合特性测试仪 型号MOS-100A-MT
[复制链接]
0~100A1200V MOS管综合特性测试仪 型号MOS-100A-MT
一 概述
该综合测试仪在MOS-100A和HV-20KV-4的基础上进行开发研制,能够通过电脑操作完成大功率MOS的IGESR、IGESF、Vcesat、Vdsat、Vgth、Vces、Ices、Rds(on)性能测试,整个测试过程自动完成,电脑软件携带数据库管理查询功能,方便操作使用。
二 应用范围
A:MOS、IGBT
B:NPN、PNP三极管
C:二极管
三 测试参数
类型
|
电压范围
|
电流范围
|
分辨率
|
Vds
|
0V~10V
|
0~100A
|
1mV
|
Vdsat
|
0V~10V
|
0~100A
|
1mV
|
IGSSR
|
0V~-20V
|
0~-2uA
|
1nA
|
IGSSF
|
0V~+20V
|
0~2uA
|
1nA
|
Vgth
|
0~10V
|
0~1000mA
|
1mV
|
BVdss
|
0~1200V
|
0~2mA
|
1V
|
RD(on)
|
0~10V
|
0~100A
|
0.0001Ω
|
IGBT
ICES
|
IGESF
|
IGESR
|
BVCES
|
VGETH
|
VCESAT
|
VF
|
漏电流
|
栅极漏电流
|
击穿电压
|
开启电压
|
导通压降
|
体内二极管导通压降
|
MOS
IDSS
|
IGSSF
|
IGSSR
|
VGSTH
|
VDSON
|
BVDSS
|
VF
|
漏电流
|
栅极漏电流
|
开启电压
|
导通电阻
|
击穿电压
|
体内二极管导通压降
|
DIODE 稳压管 NPN PNP三极管
IR
|
BVR
|
VF
|
|
VZ
|
VCESAT
|
|
ICBO
|
ICEO
|
BVCES
|
HEF
|
漏流
|
电压
|
压降
|
|
稳压值
|
导通压降
|
|
集基漏电流
|
集射漏电流
|
耐压
|
放大倍数
|
|