请教芯片失效分析

一杯清酒 · 发表于2021-10-27 20:35

请教芯片失效分析 [复制链接]

请教各位大佬一个问题，芯片VCC与GNG之间的阻抗异常，怎么去查问题？

有的表现为8Ω，有的是220Ω。基本都不一样。

qwqwqw2088 · 发表于2021-10-27 21:05

哪方面功能的芯片的GNG？GNG是个什么管脚

maychang · 发表于2021-10-28 07:50

想必是拿万用表测的。

测量时，万用表两支表笔，哪支接VCC？每次测量都固定这支表笔么？

baopodao · 发表于2021-10-28 08:17

是单个芯片测量还是在PCB板上包括其它器件时测量？

annysky2012 · 发表于2021-10-28 09:23

芯片失效的我之前遇到过在，看芯片是否失效，在不拆除芯片的前提下，要对比测试测试每个引脚。或者拿到第三方检测机构去测试。使用万用表一定要测试方法正确。

viphotman · 发表于2021-10-28 09:33

你怎么确定说芯片失效了？

se7ens · 发表于2021-10-28 10:27

阻抗不一样的芯片都是坏的吗？

还是说阻抗大的芯片是好的？

如果是的话，那就说明VCC与GND之间有短路，芯片内部已经损坏

一杯清酒 · 发表于2021-10-28 16:32

qwqwqw2088 发表于 2021-10-27 21:05 哪方面功能的芯片的GNG？GNG是个什么管脚

GND 写错了

一杯清酒 · 发表于2021-10-28 16:33

maychang 发表于 2021-10-28 07:50 想必是拿万用表测的。测量时，万用表两支表笔，哪支接VCC？每次测量都固定这支表笔么？

是用万用表测量的每次都是没换过。

一杯清酒 · 发表于2021-10-28 16:33

baopodao 发表于 2021-10-28 08:17 是单个芯片测量还是在PCB板上包括其它器件时测量？

单颗芯片，PCB板上未焊接其它元器件

一杯清酒 · 发表于2021-10-28 16:36

昨天芯片拿去FIB，开盖刚回来。未发现异常，。将芯片内部与Flash之间的打线断开后，问题还是一样的。证明问题是出在主芯上面。今天拿去做一下RV曲线和电性能检测。

一杯清酒 · 发表于2021-10-28 16:38

se7ens 发表于 2021-10-28 10:27 阻抗不一样的芯片都是坏的吗？还是说阻抗大的芯片是好的？如果是的话，那就说明VCC与GND之间有短路 ...

应该是芯片内部的问题，已经送第三方检测了

wsmysyn · 发表于2021-10-28 16:46

看样子短路啊, 有可能esd击穿之类的, decap做 FIB, SEM, 或者上电热点分析。之类的, 专门的失效分析公司搞一下

qwqwqw2088 · 发表于2021-10-28 18:54

一杯清酒发表于 2021-10-28 16:32 GND 写错了

猜想应该是GND，所以确认一下

IC芯片的VCC和地之间短路，或许是外围电路，在产品调试新板中很容易出现，因为有装配的原因比如滤波电容焊接短路

如果是正在使用的板子，这种情况就需要测量一下找原因

qwqwqw2088 · 发表于2021-10-28 18:56

怀疑IC的外围的某个器件失效，电容的原因估计多点

IC器件本身的VCC和GND短路，就是IC内部有问题，或者设计原因导致IC损坏等等，总之拆焊掉部分器件测量，凡是有VCC和GND的器件都可以怀疑

一杯清酒 · 发表于2021-10-28 19:57

wsmysyn 发表于 2021-10-28 16:46 看样子短路啊, 有可能esd击穿之类的, decap做 FIB, SEM, 或者上电热点分析。之类的, 专门的失效分析公司搞 ...

对的现在就是准备送几颗芯片去测一下RV曲线和电性能检测。看一下到底是哪里出问题了。

chunyang · 发表于2021-10-29 11:43

测“电阻”法无法提供有效的失效分析，只能判断是否不正常，损坏原因需要分析具体应用设计和使用工况，器件本身需要找专业机构才能分析，这个个人可做不了，需要暴露内部晶片做显微分析的，甚至还需要用到微探针乃至精密磨床、精密化学腐蚀做多层分析。