【ESP32-C3-DevKitM-1】ESP32-C3的ADC

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ADC的评测

ESP-C3的ADC有两个,5通道的已校准的ADC1和1通道的未校准的ADC2，采样速率为200Ksps，DHL和INL分别为±7LSB和±12LSB，只能说达到了够用的级别。

按照之前的方法，新建一个工程，添加模板，如下图，然后编译运行

这里要注意一点，选择模板的时候要选择esp32-c3中的adc例程，而不是single-read中的adc例程。

例程中包含用DMA传输数据和普通的，我接下来是测试普通的ADC采样。

我稍微改动了一下ESP-IDF提供的例程，这样更好讲，如下图

我讲一下基本流程。

adc1_config_width(ADC_WIDTH_BIT_12); 这句为配置ADC1的位数，可为9-12位
adc1_config_channel_atten(ADC1_CHANNEL_4, ADC_ATTEN_DB_11);这句是配置通道和衰减数，通道4的话对应的就是GPIO4，adc_atten_t衰减系数有4种，相对应有4种不同的电压测量范围，如下图，所以要选择合适的系数

要进行电压校准

adc_chars = calloc(1, sizeof(esp_adc_cal_characteristics_t));

esp_adc_cal_characterize(ADC_UNIT_1,ADC_ATTEN_DB_11, ADC_WIDTH_BIT_12, 1100, adc_chars);

首先先用calloc申请一段内存，然后调用esp_adc_cal_characterize API，具体的输入参数可以看API介绍，其中第四个参数是默认的参考电压，ESP32-C3的参考电压为1100mv，但是我发现一个问题，第四个参数其实填什么数字都可以，比如0mv或者3300mv，并不会影响其结果。

进行读取ADC原始数值

adc_reading= adc1_get_raw(ADC1_CHANNEL_4);

进行数据转换

这里本来我是想用以前的ADC数值转换的思想，就是原始数据直接乘上一个系数，后来发现数据相差较大，经过询问官方技术后，得知要用esp_adc_cal_raw_to_voltage(adc_reading, adc_chars);转换为真实数据，因为还需要引入存有校准数据的adc_chars，最后打印出来

实际测试

精度还是能接受的，可能输入DC-DC电源也有一些影响。

还有一点，最好不要超推荐量程工作，比如在衰减11db时，ADC最高能测3000mv左右，推荐为2600mv，当越到后面差的越大，可能有50-100mv的误差。

littleshrimp

芯片虽然便宜但是该有的功能还是都有的
ADC测量2600mV以上误差较大问题数据手册里说了吗？

Jacktang

第四个参数其实填什么数字都可以，

因为它是默认的电压

tinnu

有DMA的ADC吗？没找到唉。在S系列里面DMA都是给IIS的，要想用ADC的DMA就必须走IIS曲线实现。但IIS工程好像并不支持C3系列

dmzdmz666666

tinnu 发表于 2021-7-1 22:25 有DMA的ADC吗？没找到唉。在S系列里面DMA都是给IIS的，要想用ADC的DMA就必须走IIS曲线实现。但IIS工程好像 ...

这里面的continuous_read就是DMA的ADC例程

dmzdmz666666

littleshrimp 发表于 2021-7-1 22:03 芯片虽然便宜但是该有的功能还是都有的ADC测量2600mV以上误差较大问题数据手册里说了吗？

确实该有的都有的,性价比蛮高的

在在线编程手册有提及

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