【雅特力开发板 AT32F421 测评】-TEST03 ADC测试

Gen_X

【雅特力开发板 AT32F421 测评】-TEST03 ADC测试 [复制链接]

 

条件：雅特力开发板 AT32F421

MCU时钟120Mz, ADC时钟10Mz（最大28MHz，还有很大余量）。

输入：ADC1第一个通道，即  ADC1_0    PA0，内部基准。

测试项目：单次单通道最快采样速度下ADC精度大概范围。

测试环境：雅特力开发板 AT32F421。

单次采样时间 ：1.5 + 12.5 = 14 周期 = 1.4 us，采样频率10次/s ,

输出：USART1@256000 ，分别输出采样值和0.5深度的一阶惯性滤波值（便于观察离散度）

ADC 配置：

               ADC_RegularChannelConfig(ADC1, ADC_Channel_0, 1, ADC_SampleTime_1_5);

采集及滤波：

               usAdc = (double)(Get_ADC()) * ADC_VREF / 4096 ;

               ADCtemp = (0.5*usAdc + 0.5*ADCtemp ) ;                                            //  0.5 LAG

输出：

               printf("%1.4f %1.4f \r\n", usAdc , ADCtemp);    
               bsp_LED_Toggle();

零点测试结果1: 可以看出第三位小数（mV）离散度不大于±5mV

1.4 V 电池测试结果1: 可以看出第三位小数（mV）离散度不大于±5mV

板子3.3V电源测试结果1: 可以看出第三位小数（mV）离散度不大于±5mV

对于12位ADC，在1.4 us采集速度下，能有这样的精度和稳定性，是非常难得的。

如果采样速度降低，或最高速度下加上简单滤波，可以简单做到±2mV的动态精度。

注：本次测试仅代表本开发板的测试结果，不代表所有芯片和其它开发板的性能。

 

以前用别的厂家做过ADC测试，小于ms级的采集速度，小数2位后基本发散，最大加过0.01的L

AG滤波系数，不加无法使用，这就是为什么要做这个测试的原因。

总之，测试结果满意。

 

 

 

soso

恭喜喜提一满意芯片 哈哈，期待后续评测

Gen_X

祝大家劳动节快乐！

今天——劳动节，无意中查看了AT32F421的ADC最高采集时钟，前面为了让测试顺利，我取了10M采集时钟。

根据时钟定义，我提高到了20M,离最大28还有距离，但下一档就超过了，所以，只能做20M试验了。

结果出乎预料：零点和3.3v测试竟然在mv级没有误差，误差在小数点后第4位，这完全超出了我的认知。

总结：不一定ADC采集时钟越慢精度越高！

       期望大家注意，最高采用和MCU较为规整的整数采集频率，例如MCU为120M，则采集时钟取8和12的整数倍，

例如 ：3、4、6、8、12、20等，并测试采用误差最小且最稳定的一个时钟。

       仅代表个人、本次测试结果！   

kehui

谢谢分享