【GD32E503评测】mig29_Step2 实测 DAC 和 ADC 的物理特性

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【GD32E503评测】mig29_Step2 实测 DAC 和 ADC 的物理特性 [复制链接]

 

因为公司有7位半的表，一直想实测 MCU内部的ADC和DAC的物理特性（精度、线性）。

这块GD32E503板子上贴心地安排了一个 JP4 跳线，只要接通，就可以把DAC输出当ADC输入了，非常方便。
不过实操下来，发现光有表还不行，还得有个程控的高分辨率电压发生器，以及能用程序读出7位半的读数才能自动化测试，这次就先粗略人工测一下。

方法：
把附件里的 main.c 覆盖 07_ADC_Temperature_Vrefint 这个工程里的 main.c，

把 JP4 接通（ JP4 on = DAC0 <---> ADC_In2 ），

另外， VR1 <---> ADC_In1 (from 0mV )，可以直接测量。在PC上用串口工具可以获得测量读数。

软件修改点：
1. 以 07_ADC_Temperature_Vrefint 为base，将原测温度修改为测 ADC_In1(VR1), 原测 Vref的改为测 ADC_In2(DAC0 输出）
2. DAC部分，从 11_DAC_Output_Voltage_Value 这里移植，主要是将不自然的“左对齐”改成“右对齐”。

 

实测情况：
1. DAC从0-4095输出，再用ADC回读。记录结果见附件里的两个文本文件。
 结论：
（1） DAC‘零飘’有大约 7mV （也就是 DAC输出0-12时，实际输出电压都是 7mV 左右）， 

（2）DAC 输出满刻度这端，没有测。
（3） ADC 的‘死区’电压大约有 2.3mV.

2. 粗略看，这些12位无脑当成10位用，精度和线性都是足够准的。

3. 要想做高精度实测，需要重新打板。因为发现 MCU 四周的 Vcc/Gnd 电压有 2mV 左右的差异，而ADC测量的参考地用的是 DAC这里的，继续测试没有意义。

4. DAC的“零飘”和ADC的“死区”都是客观存在的，在高精度场景时如何在量产时消除其影响，需要大家群策群力思考。

 

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2021-1-29 20:13 上传

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hujj

    请教楼主，我尝试了多次都没有成功地启用板上的ADC测试，按照电路图，板上的ADC应该是接PA1和PA2，可以示例代码中却是PC2和PC3，我将GPIO配置修改为PA1和PA2，将ADC通道配置修改为1和2，但获得的数据不随可调电阻调整而变化的，请问该如何启用板上的ADC？

 

    经过反复测试，已经成功启用了PA1的PA2引脚作为ADC通道1和通道2使用，问题已经解决，谢谢！

zxopenljx

谢谢楼主分享