【CH579M-R1】3. ADC 内部测温，外部通道及触摸按键测试

yanxinboy

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本帖最后由 yanxinboy 于 2020-9-25 20:20 编辑

节前加月底，巨忙中！

CH579内部集成了一个12位的逐次逼近型模拟数字转换器ADC，最大16个通道，支持14个外部模拟信号源和2个内部信号源 - 内部温度检测通道和内部电池电压检测通道。

输入支持单端和差分输入，可选PGA增益（建议按手册的实际可用测量范围选择合适的PGA增益，提高准确度）。

ADC 时钟频率选择为CK32M的6，8，10，12分频，频率范围在2.67MHz~5.33MHz之间，采样速率为始终频率的1/16，理解为16个始终周期完成一次采样。这个分辨率和速度，完全能满足一般的模拟量的采集应用。

下面是ADC的结构框图及寄存器列表供快速参考：

本此实验对ADC的单通道，内部温度检测，触摸按键检测进行了测试：

硬件连接：外部通道分别测试了ADC 通道9 - PA0, ADC 通道3 - PA13, 其中PA0接3.3V, PA13同样连接3.3V.

ADC 参考了库函数的数据校准功能，手册里面对PGA 增益的选择描述。触摸按键使用了430BOOST-SENSE1. 连接至ADC通道2 - PA12.

实验程序如下：

int main()
{
    UINT8 i;
    signed short  RoughCalib_Value=0;		
    		RB_CFG_RESET_EN;
   
    DebugInit();
    PRINT( "Start @ChipID=%02X\n", R8_CHIP_ID );


    PRINT( "\n1.Temperature sampling...\n");
    ADC_InterTSSampInit();
    RoughCalib_Value = ADC_DataCalib_Rough();  
    for(i=0; i<20; i++)
    {
        abcBuff[i] = ADC_ExcutSingleConver() + RoughCalib_Value;     
    }
    for(i=0; i<20; i++)
    {
        PRINT("%u 'c ", ADC_GetCurrentTS( abcBuff[i] ));
    }PRINT("\n");
    

    PRINT( "\n2.Single channel sampling...\n");
    GPIOA_ModeCfg(GPIO_Pin_0, GPIO_ModeIN_Floating);
    ADC_ExtSingleChSampInit( SampleFreq_3_2, ADC_PGA_0 );
    

    GPIOA_ModeCfg(GPIO_Pin_5, GPIO_ModeIN_Floating);
    RoughCalib_Value = ADC_DataCalib_Rough();   
    PRINT("=%d \n", RoughCalib_Value);    
    
    ADC_ChannelCfg( 9 );        
    for(i=0; i<20; i++)
    {
        abcBuff[i] = ADC_ExcutSingleConver() + RoughCalib_Value;      
        ADC_DataCalib_Fine( &abcBuff[i], ADC_PGA_0 );
    }
    for(i=0; i<20; i++)
    {
        PRINT("%f V ", ((float)(abcBuff[i]))/4096*3.3);
    }PRINT("\n");
    


    PRINT( "\n4.TouchKey sampling...\n");    
    GPIOA_ModeCfg(GPIO_Pin_12, GPIO_ModeIN_Floating);
    TouchKey_ChSampInit();
    ADC_ChannelCfg( 2 );    

    for(i=0; i<20; i++)
    {
        abcBuff[i] = TouchKey_ExcutSingleConver(0x20); 
    }
    for(i=0; i<20; i++)
    {
        PRINT("%d ", abcBuff[i]);
    }PRINT("\n");
        
    

    PRINT( "\n4.Single channel sampling in interrupt mode...\n");    
    GPIOA_ModeCfg(GPIO_Pin_13, GPIO_ModeIN_Floating);
    ADC_ExtSingleChSampInit( SampleFreq_3_2, ADC_PGA_0 );
    ADC_ChannelCfg( 3 );
    NVIC_EnableIRQ(ADC_IRQn);
    adclen = 0;
    
    ADC_StartUp();  
    while(adclen < 20);
    NVIC_DisableIRQ(ADC_IRQn);
    for(i=0; i<20; i++)
    {
        PRINT("%f V ", ((float)(abcBuff[i]))/4096*3.3);
    }PRINT("\n");
    
    while(1);    
}


void ADC_IRQHandler(void)			
{
    if(ADC_GetITStatus())
    {
        abcBuff[adclen] = ADC_ReadConverValue();
        ADC_StartUp();
        adclen ++;
    }
}

实验数据串口输出如下，其中触摸按键为非触摸状态和触摸状态的数值，感觉变化不大啊。沁恒的手册也没有过多的关于触摸的设置，PCB布局等的技术描述。这个可能只有项目需求时再与官方沟通获得更多的技术资料了。如果有触摸调试好用的同学麻烦指点下，目前的数据是否合理。

同时我们看到ADC在使用PGA增益校准后，实际效果并没有直接采样取得的数值准确。沁恒的参考程序，要求使用粗细调时，浮空ADC1, 目前收到的板子ADC1及PA5连接至USB部分，可能对采样有影响。需要与官方沟通了解下。这个校准怎么用，知道的同学指点下哦。