CC2640RF之Debug Interface(cJTAG)

Jacktang

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cJTAG全称Compact Joint Test Action Group,它是JTAG（Joint Test Action Group）的超集，
IEEE1149.1定义了JTAG标准，这个标准正式发布于1990年.随着半导体芯片技术进步，多芯片封装、超低功耗等越来越复杂设计，JTAG显得有些捉襟见肘。急需一种可以解决的方案，于是cJTAG诞生了，它可以向后兼容。当然除了JTAG其实还有SWD（serial Wire Debug）,它是arm设计的
cJTAG四个新的特性：
1.提供电源管理。此前只有“Alwasy On”模式，现在可以对超级功耗设备模式提供支持。
2.支持增加芯片集成。
3.应用程序调试。
4.设备编程。
cJTAG(IEEE1149.7)功能分为6个等级的类，每个类是所有较低类的超集：
T0：以支持IEEE1149.1（JTAG）为基础，增加多片上穿行支持。
T1:Tap.7控制器的基本功能，部分功能扩展，支持功耗逻辑控制。
T2:串行扫描系列中支持芯片级旁路。
T3:4线模式星型扫描拓扑。
T4:2线或4线星型扫描拓扑。使用高级协议来传输数据，TDIC和TDOC引脚可以用作其他用途或者不使用。
T5:自定义通信y协议拓展。使用高级协议以及8个数据通道来传输后台数据。
总结：
T0到T3类口占了原来的IEEE1149.1标准，并显示了更多的功能。
T4和T5类侧重于两个引脚系统操作，而不是原始JTAG所需的操作。
无论是JTAG还是cJATGd都是使用边界扫描技术来实现调试的。

JTAG需要以下引脚：
TCK：测试时钟。
TMS：测试模式选择。
TDI：测试数据输入。
TDO：测试数据输出。
TRST：测试复位，这是可选的引脚。

cJTAG需要的引脚：
cJTAG在高级协议中TDI、TMS、TDO信息被转换成扫描数据包（SP）格式在TMSC引脚上传输。TAPC对SP进行信息提取，从而进行测试。
TMSC：数据传输引脚，这是一个双向的传输IO。
TCKC：主要承担调试器时钟输出到调试设备。
TDIC、TDOC：用于其他用途或者不使用，可选的引脚。

CC2640R2F支持cJTAG和JTAG,只使用TMSC和TCKC是开机后的默认配置。