楼主帖所及测温方案严格讲不能称之为“RC振荡器”,因为该电路并非RC振荡器的结构,需要软件参与才能输出连续脉冲。这类方案曾经流行。当年ADC很贵,在1990s初期,最便宜的ADC是8位的AD0809,价格超过60元/片,内地甚至售价过百。而同期,一片LM324四运放只要不到两元一片,LM339之类的比较器价格也差不多,都只是ADC的零头。而那个年代,集成式温度传感器刚刚问世,价格也十分高昂,远远高于运放加热敏电阻。在这样的背景下,基于廉价的热敏电阻,利用RC时间常数随温度的变化来测温就是一种很廉价有效的办法。这种解决办法甚至在1980s就出现了,在1980s,与直接ADC法的差价更大。
时过境迁,现在的电子世界早已不是当年的那个世界,这个方法早过时了。从性能上讲,RC时间常数测温的精度不高,尤其是楼主贴中提到的脉冲个数法,这比精细测量RC时间常数的误差要大得多,而测量RC时间常数,电容的温度特性都成问题,需要使用低温漂的型号,运放/比较器以及基准等也都有影响。更重要的是,楼主帖的方法在今天已失去了价格优势,现在集成式半导体温度传感器不贵,带片内ADC的MCU也不贵,测温的手段和花样太多了,哪种合适,必须考察具体应用的要求。
当然,如果对精度要求不高且对成本十分敏感,楼主贴的思路还是有价值的,但绝对不能用运放或比较器,那就没意义了。现在的MCU都是CMOS工艺,制造工艺则保证了产品的离散性不大,温度特性也稳定,此时完全可以利用常规数字IO的门限电平配合RC电路来测量时间常数,进而换算成温度。
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