课件集锦｜泰克半导体材料器件研讨会（2019-2018）

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以下精华讲稿，来自于业内著名院校及产业界资深人士，内容涵盖了逻辑及存储器件的表征挑战及方法，为新材料及器件结构的可靠性研究提供了宝贵参考资料，同时还针对表征及可靠性测试提供了深入阅读资料。 >>【点击下载】

 

2019年精选讲稿目录          >>【点击下载】
> 聚合物传感器
> 新型(二维)狄拉克材料和物理器件研究
> 氧化物半导体薄膜的多场调控
> 基于忆阻器的类脑计算
> 高效率氮化镓毫米波器件研究
> 新型半导体异质集成及器件构筑

 

2018年精选讲稿目录          >>【点击下载】
> 高效率氮化镓毫米波器件研究
> 先进逻辑与存储器件可靠性评估中的缺陷表征
> 亚纳秒器件表征技术
> 纳米级CMOS器件中随机氧化物俘获特性研究
> NOR Flash: Scaling 的挑战、可靠性及表征
> 阻变存储器可靠性模型及表征
> 锗隧道和负电容FET超越CMOS器件和应用表征
> 先进工艺(14/10/7纳米)可靠性表征

>>【点击下载】，获取以上精选讲稿。