历届“仪器仪表类”赛题要求与设计方案 四
频率特性测试仪(1999年C题)[1]
频率特性测试仪设计要求:设计并制作一个频率特性测试系统,包含测试信号源、被测网络、检波及显示三部分。
(1)基本要求
① 制作幅频特性测试
a. 频率范围:100Hz~100kHz;
b. 频率步进:10Hz;
c. 频率稳定度:10-4;
d. 测量精度:5% ;
e. 能在全频范围和特定频率范围内自动步进测量,可手动预置测量范围及步进频率值;
f. LED显示,频率显示为5位,电压显示为3位,并能打印输出。
② 制作一被测网络
a. 电路型式:阻容双T网络;
b. 中心频率:5kHz;
c. 带宽:±50Hz;
d. 计算出网络的幅频和相频特性,并绘制相位曲线;
e. 用所制作的幅频特性测试仪测试自制的被测网络的幅频特性。
(2)发挥部分
① 制作相频特性测试仪
a. 频率范围:500Hz~10kHz;
b. 相位度数显示:相位值显示为三位,另以一位作符号显示;
c. 测量精度:3°。
② 用示波器显示幅频特性。
③ 在示波器上同时显示幅频和相频特性。
④ 其它。
频率特性测试仪系统设计方案
频率特性测试可采用冲激响应测试法和扫频测试法。设计要求的频率范围为100 Hz ~100 kHz,属于低频频率特性测试仪的频率范围,冲激响应测试法和扫频测试法两种方法都可采用。设计要求频率按10 Hz步进,采用频率步进式扫描的扫频测试法,操作起来更为方便。
扫频测试法可采用频率逐点步进或频率连续变化的方法,完成整个频率特性的测量。这种方法无需对信号进行时域与频率的变换计算,可以通过对模拟量的测量和运算完成。在采用扫频测试法的频率特性测试仪中,扫描同步控制部分产生锯齿或阶梯型扫描电压,同步地控制压控振荡器(VCO)和显示部分的工作,以及对整机其它部分的性能作同步地补偿,如对扫频信号源的幅值平坦度进行补偿等。
扫频信号源部分产生频率从低到高或由高到低变化的正弦波振荡信号。扫频信号的产生方法有多种,按需要可做成点频(连续波CW)、频率自动步进(STEP)、频率连续变化(扫频SWEEP)等形式。可采用VCO产生扫频信号,VCO的控制量使用斜坡电压或阶梯电压,同时斜坡电压或阶梯电压又作为显示的X轴扫描电压以达到扫频和曲线显示的同步。
测量和计算部分对输入与输出信号的幅值和相位进行测量。计算输出信号与输入信号的幅值比,得到幅频特性;计算输出与输入的相位差,得到相频特性。只分析电路的幅频特性称为标量分析,而同时给出幅频特性和相频特性的称为矢量分析。
显示系统的频率特性有各种形式,如采用图形和文字信息显示,用得最多的是幅频特性曲线和相频特性曲线。对于频率特性,还可采用波特图显示方式,即频率轴按对数刻度,相应地频率步进(扫频)按等比级数取值。
频标发生器电路产生一个频标信号,在显示的频率特性曲线上打上一个图形标志,用以指示该处对应的频率值。
频率特性测试仪可以采用单片机、FPGA实现。
1. 扫频信号源
扫频测试法包括了扫频信号源,幅度和相位检测,数值计算处理,频率特性曲线显示,同步控制等几个部分,各个部分电路设计考虑如下:
(1) 扫频信号源发生器性能指标:扫频测试需要用到正弦波信号,对于正弦波信号,主要性能指标有频率稳定度、频率精度、失真和噪声、信号源内阻以及输出幅度等。正弦波信号用于扫频测量时,除了上述指标要求外,要考虑的其他性能指标有:扫频频率范围,或称为频偏、扫频速度、扫频方式、扫频线性度、平坦度、输出动态范围和衰减器精度,以及在进行相频特性测量时,信号源的相位应能通过预置加以控制并便于测量。
(2)扫频信号源发生器实现方案:
a. 压控振荡器(VCO)形式,可采用专用的VCO芯片或者函数发生器芯片构成。
b. 锁相环(PLL)频率合成器形式。
c.直接数字合成器(DDS)形式,DDS不但可以合成出正弦波,三角波,方波等函数波形,还可以合成各种调制波形和任意形状的波形,只要将所需波形预先计算好存于波形存储器中即可。通过这种方法可以制成任意波形发生器(AWG)。DDS的信号的相位可以十分精确地控制,在进行相频特性测量时,这是十分重要的。目前,专用的DDS集成电路芯片的最高时钟频率可达到1 GHz以上,可实现的信号源正弦波频率达数百MHz以上。
d. DDS + PLL频率合成器:DDS+PLL频率合成器形式使用了两个DDS。DDS1作为分频器,直接改变参考振荡源的频率。 DDS2作为频率合成器的环路分频器,用于实现频率值的小幅度步进。DDS作为分频器,其工作频率上限不可能太高,因此,在DDS分频之前,先经过一个2N分频。PLL + DDS频率合成器可采用AD9858等专用芯片。
2. 幅度测量电路设计
幅度测量常用的检波方式有峰值检波和有效值检波。
(1)有效值检波电路:有效值检波电路可采用专用的有效值检波电路芯片以实现精确的RMS检波,如采用RMS-DC转换器芯片 MX536A/MX636等。
(2)峰值检波电路:一个有源峰值检波电路采用OP和二极管组成,用来保持峰值电压的电容C应根据被检波的信号频带宽度而取相应的值,一般不宜太大。在完成一次峰值检测后,泄放开关管导通,将C上的电荷清除,接着进行下一次测量。每次测量,都应在网络达到稳态输出时进行,至少应包含一个峰值周期。因而测量速度随网络带宽和激励频率而变。
采用上述两种模拟检波电路所获得的直流模拟电压,还需要通过一个A/D转换为数字量,供数字显示用。
3. 相位测量电路设计
相频特性的测量通过测量网络的输出与输入信号的相位差来实现。也可以分为模拟电路测量方法和数字测量方法两种。
(1) 模拟测量方法:用过零电压比较器将输入和输出正弦波整型为方波,送鉴相器鉴相,鉴相电路由异或门和低通滤波器组成的,异或门的输出为脉冲方波,其占空比与两个信号的相位差成正比。经过低通滤波器,即可将占空比转换为直流电压,再经A/D转换后,单片机读取相位差值。该值表征两个波形的相对相位差大小,但不能分辩出两者之间的相位关系是超前还是滞后。为此还要另外加一个相位极性判别电路。
(2)数字化方法:采用数字电路技术对输出的脉冲宽度进行测量,可以直接地完成相位差的测量。设计要求在10 kHz时,相位测量精度达到3°,相应的脉冲宽度约为1μs。一般的数字电路都可以满足这一计数速度要求。也可以采用单片机中的计数和测频功能,来完成这一工作,具体方法是直接利用整形之后两个方波信号的边沿作为单片机的两个中断源,并测量两次中断之间的时间间隔。这种方法要求单片机时钟频率足够的高。
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