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问题分析:DS18B20温度采集问题 [复制链接]

背景:我用DS18B20做为温度采集信号,用在SPWM调制的IGBT驱动板上采集功率单元的温度信号,我在静态测试情况下,DS18B20能正确采样到温度信号,用手握DS18B20温度也会上升,采集值也会变化。比如用烙贴靠近,温度也会明显变化。现在的问题是:

  1.  DS18B20 断线验证,采集值为全高,8位表示XFF;

  2.  驱动板上IGBT开关时候,DS18B20上采集温度经常跳变,比如正常30度,一会儿编程90度,一会儿变化为-1度。针对这个问题,我们组织分析,大部分设计人员程序设计没问题,肯能是IGBT高频开关信号干扰造成DS18B20温度不正常,处理方法,对温度传感器进行滤波处理。

但我个人觉得,是否是程序设计部合理?

 

请问,我担心问题是否是真的?欢迎讨论!

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IGBT在导通和关闭瞬间,di/dt,du/dt的剧烈变化造成电磁干扰,但是不知道你的IGBT驱动和单片机是不是有光电隔离,所以不好分析是不是干扰的原因,你可以尝试隔离后看看还有没有这个现象。还是就是,你的PWM的产生方式,是不是中断占用的cpu时间,造成采样错误。  详情 回复 发表于 2010-6-10 14:25
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IGBT在导通和关闭瞬间,di/dt,du/dt的剧烈变化造成电磁干扰,但是不知道你的IGBT驱动和单片机是不是有光电隔离,所以不好分析是不是干扰的原因,你可以尝试隔离后看看还有没有这个现象。还是就是,你的PWM的产生方式,是不是中断占用的cpu时间,造成采样错误。
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