BQ76940采样芯片损坏问题

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BQ76940采样芯片损坏问题 [复制链接]

问题：采用BQ76940设计一款23串保护板，在测试的过程中发现一个比较严重的BUG，就是在采样线脱落或者电池组断裂的时候，BQ芯片或均衡MOS管会损坏，如下图所示电路：

1. 当中间有采样线脱落的时候，由于均衡MOS管存在体二极管，压差会一路叠加下来，造成一个通道的输入电压超过5V， 是否存在损坏BQ通道和均衡MOS管的可能。


2. 当电池组断裂的时候，也就是一个23串的电池组由于焊接不牢固，断开成了11串+12串的两个电池组，但是采样线仍旧是原有的焊接方式焊在PCB上，这个时候会不会造成BQ芯片损坏。


以上两种情况在实际使用的过程中会经常遇到，BQ芯片也损坏了好几个，请问TI有没有比较好的解决办法。

典型的损坏如下，VC0和VC1，VC5B和VC6，VC10B和VC11其中任意一组会损坏短路

目前也遇到类似的问题，也是上述Pin一直有Damage，概率还不低，不知道Ti有什么方法应对此问题


已经出现好多次了，都是VC0和VC1，VC5B和VC6，VC10B和VC11之间短路


Ti回复说是要按低高压顺序连接到电池上，问题是在一个连接器上，没人能保证啊，有改进避免的方式吗您那边，一直坏也不是事啊

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很好的资料哦