可测性设计及其在IC设计中的作用

feifei

可测性设计及其在IC设计中的作用 [复制链接]

可测性设计及其在IC设计中的作用
当今的IC和印制电路板非常复杂，需要精细而大范围的测试，这大大增加了电子产品开发和制造的成本，因此，引入可测试设计就十分重要。
　　开发电子产品的工程小组履行的各种职能中，最花钱的可能集中在验证和测试这两个工序上。表面上看，验证和测试两种职能似乎一样，但只要你再深入研究，很快就会发现两者只是相关而已。验证的目的是排除设计中的错误，确保该设计符合其技术规范。测试的目的是检测由加工制造工序衍生的故障。一个业已完成的设计，可以用为了测试它而开发的相同向量来验证，但却不是在开发期间的验证。工程师们必须开发许多不适用于最终测试但对检测设计错误却是不可或缺的专用测试平台和向量。