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活动时间/地点:
2010/01/26 14:00 杭州 浙江国际大酒店5楼影视厅(杭州下城区体育场路221号)
2010/01/28 14:00 深圳 金茂深圳JW万豪酒店3楼会议室I&II (深圳市福田区深南大道6005号)
2010/01/28 14:00 南京 南京中山大厦4楼友谊厅(南京中山路200号)
主办公司:美国国家仪器有限公司
简介:
您是否面临过测量噪声带给您的困扰?众所周知,测量噪声是影响信号采集精度的重要因素之一,而测量系统周边的电厂、磁场、无线电波等噪声源都会大幅度影响测试结果,同时线缆的选择、信号调理(隔离与抗混叠)、测试电路的设计也是测量精度是否满足要求的关键所在。因此,如何有效地降低测量噪声,从而提高测量精度,成为了工程领域的当务之急。
本讲座中,NI工程师将为您精讲提高测量精度的七大技巧,从选择合适的传感器、隔离技术到基于软件的信号处理,结合生动有效的应用演示,让您全面受益,确保您测试测量应用的成功!
本次研讨会为以下工程师精心设计:
了解NI数据采集系列产品
需要解决测量噪声与精度的问题
测试测量项目开发人员
您将通过本次研讨会了解到:
学习数据采集的基本理论
如何选择最合适的传感器
合理的放置与屏蔽
正确的接线方式
信号隔离技术
硬件级滤波
信号处理技术
涉及的产品/应用/演示包括:
NI LabVIEW — 功能强大的图形化开发平台
NI 数据采集(DAQ)产品 — M系列数据采集卡 + USB便携式数据采集产品 + Wi-Fi无线数据采集产品
活动详情
[ 本帖最后由 yoselin 于 2010-1-7 14:05 编辑 ]
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