但为君故chris 发表于 2024-9-18 08:40

TMS320F28P65外部晶振负阻测试

<p align="left">请问一下根据TMS320F28P65x Real-Time Microcontrollers 6.12.3.4.5节原文所述，Negative Resistance 1. Bring out the XTAL on XCLKOUT. 2. Place a potentiometer in series with the crystal between the load capacitors. 3. Increase the resistance of the potentiometer until the clock on XCLKOUT stops. 4. This resistance plus the crystal&rsquo;s actual ESR is the negative resistance of the electrical oscillator. 电位计（可变电阻）的具体接法是怎么样的呢？我将可变电阻一端接一个负载电容，另一端接晶振，但是调节可变电阻没有影响，请问一下这可能是什么原因呢？是不是测试方案有问题？谢谢！</p>

<p align="left" > &nbsp;</p>

walker2048 发表于 2024-9-18 10:50

<p>接在两个晶振线路之间，XI和XO</p>

但为君故chris 发表于 2024-9-19 09:15

walker2048 发表于 2024-9-18 10:50
接在两个晶振线路之间，XI和XO

<p>您好，请问一下可变电阻两端是接在 芯片与晶振连接的 X1和X2口吗</p>

walker2048 发表于 2024-9-19 13:34

但为君故chris 发表于 2024-9-19 09:15
您好，请问一下可变电阻两端是接在 芯片与晶振连接的 X1和X2口吗

<p>是的，我理解是这样，你可以试试看</p>

但为君故chris 发表于 2024-9-19 15:19

walker2048 发表于 2024-9-19 13:34
是的，我理解是这样，你可以试试看

<p>好的，谢谢您！我试试看</p>
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