NI 全联结峰会2024 — 共赢智能测试未来，火热报名中，参会赢好礼！

EEWORLD社区

NI 全联结峰会2024 — 共赢智能测试未来，火热报名中，参会赢好礼！ [复制链接]

本次NI 全联结峰会以“共赢智能测试未来”为主题，探讨智能测试发展前景，实现途径以及利用生态协作共赢。作为 NI “在中国，为中国”的最新窗口，本次峰会也将集中展示 NI 本土决策+研发新思路，以更快的服务速度和强有力的本土生态及研发伙伴，全面推进中国研发和智造。

 

峰会包括一场主题演讲和四个专题论坛，分别是：LabVIEW 与测试测量技术，新能源汽车，半导体，前沿研究（商业航空航天及高校科研等），现场更有40+实例展示，丰富 LabVIEW 社区活动，纵享一整天技术盛宴。

 

 会议时间： 11月12日（周二） 

会议地点：上海国际会议中心（浦东新区陆家嘴滨江大道2727号）

 

立即报名

 

参会好礼

通过 EEWorld 报名、当日到场参会且完成现场签到，方可有机会获得下方报名参会礼（共50份） 

注：报名参会礼由 EEWorld 提供，礼品将在活动结束后2周内发放

 

 

技术分论坛四大主题

 

 

   

 

技术盛宴，抢“鲜”一览

• 行业大咖“面对面”交流分享
• 多款新品发布，现场亲临体验
• 30+技术演讲
• 40+实例展示
• 硬件培训，一探真知

 

社区互动，出谋划“测”

• LabVIEW 专家交流
• 硬件产品答疑解惑
• 服务专区
• 互动游戏等

 

主讲嘉宾

Ritu Favre | 艾默生测试与测量业务集团(原NI) 总裁

王承祥 | 东南大学 信息学院执行院长

张莹 | 中汽智联技术有限公司 总经理助理

陈强 | 康卓电子(无锡)有限公司 运营总监

陈泽源 | 广州慧智微电子股份有限公司 高级研发经理

*更多嘉宾敬请期待

 

立即报名

Verifone

一直在用NI的东西，PXI 机箱 PXI 板卡，可惜没啥时间去参加