【上海航芯 ACM32F070开发板+触控功能评估板】—— 测试技巧和思考笔记

mars4zhu

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例程测试 大部分例程执行过程都是：

1. Reset_Handler

2. System_Core_Config()

3. __main(), (编译器C运行时库的堆、栈、有初始值变量的初始化等设置)

4. main()

5. System_Init()

6. Uart_Init()

7. APP_XXX_Test()

前面几项都基本相同，不同的例程测试代码都在APP_XXX_Test函数里，位于App.c源文件中。

 

 

 

APP_XXX_Test简化多次编译调试的技巧

ACM的例程ModulesDemo中，很多程序都是多个功能测试函数集合，成为一个函数，将不同的功能测试设置一个 fe_Mode ，然后在main函数里的APP_XXX_Test(fe_Mode)，例如：

/* GPIO_OUTPUT、GPIO_INT、GPIO_PC13、LED_BLINK */
APP_GPIO_Test(LED_BLINK);

对于每次测试，都需要将main函数中的这个值修改，然后编译、下载、调试，比较耗时。

经过多次探索，发现可以使用两种方法，即可在不改变代码的条件下，一次调试中完成多项功能的测试。

• 修改寄存器R0

  1. 在APP_XXX_Test函数最前面打上debug断点。

  2. 调试界面下，点击run后，停留在刚刚设置的断点处。

  3. 观察对应的反汇编代码，发现 fe_Mode 传递参数是存储在寄存器R0里，然后比较R0与相应的emum_Mode_t ，从而执行不同的功能测试代码。

  4. 因此，修改寄存器R0，就可以执行对应的测试，无须在main函数中修改 fe_Mode 再重新编译下载调试这种费时操作。

• 修改寄存器PC

  1. 在APP_XXX_Test函数最前面打上debug断点。

  2. 调试界面下，点击run后，停留在刚刚设置的断点处。

  3. 选择想要跳转执行的代码，利用Keil调试界面的“Change Program Counter”，可以直接将PC指向当前行。

中断ISR与主函数main之间的一个问题思考

如图，参考GPIO例程中的GPIO_INT功能测试代码，考虑以下场景：

如果两个中断来的比较接近，在main函数进入到，还未来得及设置中断标志变量 gu32_GPIOIRQ_Flag 为false，下一个中断又立刻到来，此时进入ISR中断服务例程，将 gu32_GPIOIRQ_Flag 设置为true，然后退出ISR后恢复执行main，此时main才将 gu32_GPIOIRQ_Flag 设置为false，将刚才的中断标志覆盖，导致丢失一次中断。（因此要求中断标志位的设置必须尽快完成？那么对于高频次的外部信号，该如何设计呢？）

 RTC调试无复位的影响

RTC例程中，没有对RTC模块进行复位操作，调试复位以及nRST复位，都不能复位RTC，在多次调试过程中，前一次的调试对RTC的设置会影响下一次调试，需要断电后再重新调试，否则出错。

Jacktang

修改寄存器PC的方法和修改寄存器R0

都是需要修改寄存器的，区别不是太大