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电容嚣漏电的测量﹔半导体器件和品圆片·MOSFET和PIN光电二极管的电流测量﹔PIM的光测量﹔APD反向电流测量·离子永电流测量﹐以及CNT的IⅣ特性等实例介绍。
使用静电计或皮安计来测量印制电路板的表面绝缘电阻,其典型范围在107Ω到1016Ω;绝缘材料电阻率的测量,包括体电阻率和表面电阻率;四探针技术和范德堡技术进行半导体电阻率的测量;高值电阻器电压系数的测量。
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使用SMU和静电计确定电容器的介电吸收性能;电化学实验中使用静电计进行pH值的测量和用离子选择电极确定特定离子的浓度,还用来测量液体的电导率。
使用静电计的库仑功能和步进电压源来测量电容;使用法拉第杯测量物体上的静电荷。
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标准电池的比对;使用温度传感器及纳伏表测量高分辨率的温度和微热量;利用六段平衡桥测量霍尔电压和电阻率。
采用微欧姆计或纳伏表与电流源来测量接触电阻、超导体电阻和导体电阻率。
即日起-8月15日
1、点击开始按钮,进入活动,答题或下载前填写表单(只需填写一次);
2、No1、No3、No5为答题任务,点击开始答题提交即可完成,No2、No4、No6为下载任务,只需下载典型应用内任何一个应用即可;
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