东芝光继电器TLP3547试用
昨天收到电子工程发来的“东芝光继电器TLP3547替代机械继电器评估套件”，打开邮包只见一个神秘的小盒子打开盒子有一个包裹严密的小东西
拆开后露出漂亮的小继电器评估板
继电器评估板背面图，在PCB上面可以看到1.5K的限流电阻R1
它的体积与对比组机械继电器比较
对比机械继电器顶端特写
今天先展示基本外形图片，接下来将准备试验器材，为进一步完成试验评测任务
反面还背了一个电阻？ 感觉工艺有待提高:) 我有申请了，不知道是否通过 日本货什么时候也这么LOW了 高容量型VOFF 60V／ION5A
光继电器
做工不像是传统的日本式的精致，，，
dcexpert 发表于 2018-8-28 21:04
反面还背了一个电阻？
背面的1.5K电阻是输入限流电阻 背面真的，看起来不和谐。这个评测板子是不是EE打的~~~:titter: kejoy 发表于 2018-9-3 19:57
背面真的，看起来不和谐。这个评测板子是不是EE打的~~~
这个还存在一个问题：底板引脚与通用的面包板接插孔不匹配，实验困难。我打算将底板拆下实验 kejoy 发表于 2018-9-3 19:57
背面真的，看起来不和谐。这个评测板子是不是EE打的~~~
不背锅 zhangjsh 发表于 2018-9-5 20:47
这个还存在一个问题：底板引脚与通用的面包板接插孔不匹配，实验困难。我打算将底板拆下实验
期待克服困难，继续你的评测内容，评测截至日期是10月13日 nmg 发表于 2018-9-13 10:35
期待克服困难，继续你的评测内容，评测截至日期是10月13日
我现在正在试用中，突发奇想，改变思路完成此次试用报告。目的是利用业余爱好者手中的现成的简易设备完成测试。实验报告将在近几天完成。 无负荷通断试验与参照组比较
本实验主要目的是测试TLP3547实验模块快速通断性能以及与对比组机械继电器通断延时差比对实验
1、 由单片机组成滴答试验源：采用Arduino UNO3开发板组成可调时间常数的驱动源，输出两组并行驱动信号。
2、 带动LED灯发光
3 、频率范围：通电50mS换向10mS
设定pin脚9、10 分别设置为驱动脚，分别驱动TLP3547实验模块及对比组的富士RB104-DY继电器
程序如下：
int aPin =10;
int bPin =9;
void setup() {
pinMode (aPin,OUTPUT);
pinMode (bPin,OUTPUT);
}
void loop(){
digitalWrite(aPin,HIGH);
delay(50);
digitalWrite(aPin,LOW);
delay(10);
digitalWrite(bPin,HIGH);
delay(50);
digitalWrite(bPin,LOW);
delay(10);
}
效果见视频
http://v.youku.com/v_show/id_XMTY2ODU3NjgwNA==.html?spm=a2h0j.11185381.listitem_page1.5!2~A
带负荷试验本实验主要目的是：
[*]测试TLP3547实验模块在带负荷状态下MOSFET输出端D-S压降。
[*]模块表面温度3.1、测试方案：模块经5.4Ω功率电阻连接到开关电源，使用UT207数字钳形电表监测回路电流，DMM2650 四位半万用表监测模块输出端电压。3.2、测试时间：接通电源30分钟后，使用UT300A红外线测温枪测试TLP3547表面温度。测试数据如下：
组别供电电压电流模块压降折合内阻表面温度
5V5.094V0.94A21.63mV23.01mΩ25.4℃
12V12.106V2.13A52.26mV 24.53mΩ
28.7℃
实验结论：
通过实验表明本模块内阻接近东芝公司提供的产品样本的典型数据，2A负载长时间工作表面温升低、工作稳定。使用机械继电器往往会出现许多磨损的情况，但是使用光继电器，我们就可以解决这一问题。光继电器属于免维护解决方案，不存在机械接触和磨损，提供更长使用寿命和更高可靠性。因此我认为可以批量代换相同性能的机械继电器。
考虑在产品升级时逐步批试代换。
为什么我刚发表的回复丢了？:Sad: 实验器材
TLP3547实验模块；UT207数字钳形电表；DMM2650 四位半万用表；5V及12V开关电源各一个；Arduino UNO3开发板；UT300A红外线测温枪；富士RB104-DY继电器
东芝继电器试验步骤：
无负荷通断试验与参照组比较
本实验主要目的是测试TLP3547实验模块快速通断性能以及与对比组机械继电器通断延时差比对实验
由单片机组成滴答试验源：采用Arduino UNO3开发板组成可调时间常数的驱动源，输出两组并行驱动信号。
带动LED灯发光
频率范围：通电50mS换向10mS程序如下：int aPin =10;
int bPin =9;
void setup() {
pinMode (aPin,OUTPUT);
pinMode (bPin,OUTPUT);
}
void loop(){
digitalWrite(aPin,HIGH);
delay(50);
digitalWrite(aPin,LOW);
delay(10);
digitalWrite(bPin,HIGH);
delay(50);
digitalWrite(bPin,LOW);
delay(10);
}视频效果：http://v.youku.com/v_show/id_XMzg0NTM1MTExNg==.html?spm=a2hzp.8244740.0.0http://v.youku.com/v_show/id_XMzg0NTM1MTExNg==.html?spm=a2hzp.8244740.0.0http://v.youku.com/v_show/id_XMzg0NTM1MTExNg==.html?spm=a2hzp.8244740.0.0]
带负荷试验
本实验主要目的是：
测试TLP3547实验模块在带负荷状态下MOSFET输出端D-S压降。
模块表面温度
测试方案：模块经5.4Ω功率电阻连接到开关电源，使用UT207数字钳形电表监测回路电流，DMM2650 四位半万用表监测模块输出端电压。
测试时间：接通时间30分钟后，使用UT300A红外线测温枪测试TLP3547表面温度。
测试数据如下：
组别供电电压电流模块压降折合内阻表面温度
5V5.094V0.94A21.63mV23.01mΩ25.4℃
12V12.106V2.13A52.26mV 24.53mΩ28.7℃
实验结论：通过实验表明本模块内阻接近东芝公司提供的产品样本的典型数据，2A长时间工作表面温升低、工作稳定。使用机械继电器往往会出现许多磨损的情况，但是使用光继电器，我们就可以解决这一问题。光继电器属于免维护解决方案，不存在机械接触和磨损，提供更长使用寿命和更高可靠性。由此可以批量代换相同性能的机械继电器。考虑在产品升级时逐步批试代换。
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