涛意隆 发表于 2024-8-2 16:24

可控硅结构静电防护器件的防闩锁工程

<div class='showpostmsg'><p>导语:</p>

<p >维持电压低易闩锁是高性能可控硅SCR(Silicon Controlled Rectifier)结构静电防护器件设计时需要克服的缺点。本文介绍三类避免SCR静电防护器件在CMOS集成电路芯片正常工作时被噪声偶然触发进入闩锁状态的方法,其实质均是使器件的IV曲线远离芯片闩锁区域。</p>

<p >&nbsp;</p>

<p >正文:</p>

<p >维持电压低易闩锁是高性能可控硅SCR(Silicon Controlled Rectifier)结构静电防护器件设计时需要克服的缺点。为了避免SCR静电防护器件在CMOS集成电路芯片正常工作状态下被噪声偶然触发并进入闩锁状态,一般有两类方案来解决,一种是使SCR器件的维持电压高于电源电压,另一种方式是使器件维持电流高于闩锁触发电流。一种灵巧方案是使SCR器件具有动态维持电压。三类方法的实质均是使器件的IV曲线远离芯片的闩锁区域。</p>

<p ><b>1</b><b>、高维持电压可控硅静电防护器件</b></p>

<p >可控硅器件维持电压的提高可简单地通过增大器件阴阳极间距达成,但需要以器件面积的增加和防护等级的降低为代价。研究人员提出了一种基于LVTSCR的堆叠式结构,将多个LVTSCR器件串联,其内嵌的NMOS栅极通过同一电极控制,维持电压的大小与串联的LVTSCR器件个数直接相关,可在不改变触发电压的前提下成倍地提高维持电压,其原理如图1所示。当然,此法需要增加触发电路,多个器件的串联也增加了实现面积。</p>

<p align="center" > &nbsp;</p>

<p align="center" >图1 &nbsp;Cascoded LVTSCR器件原理图</p>

<p >二级管串触发的SCR器件可以以较小的面积代价实现可调的触发和维持电压,该法不再利用器件的雪崩击穿机制触发工作,通过改变串联二极管的数量和放置位置达成可调触发和维持电压,是一种较好的解决方案。</p>

<p > &nbsp;</p>

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<p align="center" >图2 二极管串触发的SCR器件</p>

<p align="center" >&nbsp;</p>

<p ><b>2</b><b>、高维持电流可控硅静电防护器件</b></p>

<p >如图3所示为一种由GGNMOS触发的高维持电流可控硅静电防护器件,在ESD设计窗口很窄的场合中,该法可以达成低箝位电压同时避免闩锁风险,因器件由GGNMOS触发还具备响应速度快的优点。在设计中要注意调整GGNMOS的尺寸,保证在SCR开启前GGNMOS不损坏;设计外部多晶电阻值,保证SCR能有效开启;设计阳极N+和阴极P+间距,保证SCR具有高的维持电流。</p>

<p > &nbsp;</p>

<p align="center" >&nbsp;</p>

<p align="center" >图3 &nbsp;GGNMOS触发的高维持电流SCR器件版图示意图</p>

<p align="center" >&nbsp;</p>

<p ><b>3</b><b>、动态维持电压可控硅静电防护器件</b></p>

<p >动态维持电压的基本思想是在SCR器件结构中嵌入NMOS和PMOS管,如图4所示。通过控制NMOS和PMOS管上的栅压来达到调控维持电压和维持电流的目的。在电路正常工作情况下,器件维持电压高于供电电压避免闩锁问题;在ESD脉冲到来时,器件箝位在较低电压值,具有低维持电压和高防护等级的优点。</p>

<p align="center" > &nbsp;</p>

<p align="center" >图4 动态维持电压SCR器件剖面图</p>
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qwqwqw2088 发表于 2024-8-4 09:07

<p>感觉文章好像下面还有没贴出来吧</p>
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