zhangpeggy 发表于 2023-3-29 15:08

chunyang 发表于 2023-3-29 16:45

<p>无法证明,只能分析这种可能性的概率。观察EN引脚回路在PCB上的走线,如果存在长线且工作环境中存在强电磁干扰,尤其是EN回路对外界直接暴露,那么概率就较高。</p>

常见泽1 发表于 2023-3-29 23:04

<p>开盖没有问题的话,需不需要做个emmi,看看电流点</p>

wsmysyn 发表于 2023-3-29 23:21

<p>IV, backside, obirch, thermal, delayer 都做了么?发现不了的话, 那应该不是ESD......</p>

<p>&nbsp;</p>

led2015 发表于 2023-3-29 23:24

<p>试试静电放电测试仪对芯片进行测试,模拟静电放电对芯片的影响,并观察芯片是否出现故障。</p>

吾妻思萌 发表于 2023-3-30 07:11

<p>emi损坏 只能pfa磨片一点点去看找微小的损伤,不好做。你要不试试加几百个ct看看损伤会不会变得明显了</p>

吾妻思萌 发表于 2023-3-30 07:12

<div class='shownolgin' data-isdigest='no'><p>静电损坏本身就是dppm的事~</p></div><script>showreplylogin();</script><script type="text/javascript">(function(d,c){var a=d.createElement("script"),m=d.getElementsByTagName("script"),eewurl="//counter.eeworld.com.cn/pv/count/";a.src=eewurl+c;m.parentNode.insertBefore(a,m)})(document,523)</script>

zhangpeggy 发表于 2023-3-30 11:05

qwqwqw2088 发表于 2023-3-30 13:32

<div class='shownolgin' data-isdigest='no'><p>芯片是否是静电击穿,一般我们使用者很难检测,</p>

<p>芯片制造商有办法,人家有专门仪器测和判断</p>
</div><script>showreplylogin();</script>

吾妻思萌 发表于 2023-3-30 15:18

<div class='shownolgin' data-isdigest='no'>芯片是否是静电击穿,一般我们使用者很难检测,

芯片制造商有办法,人家有专门仪器测和判断


<p>制造 和包装运输,到了客户端上班子和后续测试都是有esd风险的~</p></div><script>showreplylogin();</script>

吾妻思萌 发表于 2023-3-30 15:18

<div class='shownolgin' data-isdigest='no'>芯片是否是静电击穿,一般我们使用者很难检测,

芯片制造商有办法,人家有专门仪器测和判断


<p>使用者这个料就不正常,制造商很多也是测试出的不良</p></div><script>showreplylogin();</script>

qwqwqw2088 发表于 2023-3-30 16:02

<div class='shownolgin' data-isdigest='no'>吾妻思萌 发表于 2023-3-30 15:18
使用者这个料就不正常,制造商很多也是测试出的不良

<p>这里说的芯片的静电击穿,对于芯片制造厂商来说,需要对芯片进行ESD,即Electrostatic Discharge测试</p>
</div><script>showreplylogin();</script>

qwqwqw2088 发表于 2023-3-30 16:03

<div class='shownolgin' data-isdigest='no'><p>其中包括模拟人体与芯片之间的静电放电过程来测试芯片的耐受性。</p>

<p>还有模拟机器发生的静电放电,</p>
</div><script>showreplylogin();</script>

qwqwqw2088 发表于 2023-3-30 16:04

<div class='shownolgin' data-isdigest='no'><p>还有测试模拟芯片在工作状态下受到的静电干扰</p>

<p>这些需要专门仪器,然后再分析,,,</p>
</div><script>showreplylogin();</script>

吾妻思萌 发表于 2023-3-30 16:21

<div class='shownolgin' data-isdigest='no'>其中包括模拟人体与芯片之间的静电放电过程来测试芯片的耐受性。

还有模拟机器发生的静电放电,


<p>道理是这个道理~真正到了生产环境,就比较难了 bga 管脚40多个 对应不同的电路块。esd造成损伤又千奇百怪,专门仪器好难。多说都是加tc 暴露出来~</p></div><script>showreplylogin();</script>

秦天qintian0303 发表于 2023-4-2 08:47

<div class='shownolgin' data-isdigest='no'><p>芯片的不良率控制在千分之二就不错了,就出来一个不良,直接替换吧</p>
</div><script>showreplylogin();</script>

新不耻下问 发表于 2023-4-12 10:57

<div class='shownolgin' data-isdigest='no'>50000片有一片不良还要找原因,确定不是老板看你不顺眼?(偷笑)</div><script>showreplylogin();</script>

zhangpeggy 发表于 2023-4-14 09:53

ZhuPinchao 发表于 2023-11-11 08:21

<div class='shownolgin' data-isdigest='no'><p>谢谢关注,欢迎咨询,相互交流学习。</p>
</div><script>showreplylogin();</script>

Gen_X 发表于 2023-12-28 09:04

<div class='shownolgin' data-isdigest='no'><p>EN如果是外部输入,一般应该有保护处理的。</p>

<p>没出问题不等于设计没有问题,有的设计本来就是防止万一的。</p>
</div><script>showreplylogin();</script>
页: [1]
查看完整版本: 芯片怀疑静电击穿,只有1PCS,开盖分析没有明显不良,要怎么证明是静电击穿啊