光照强度记录仪的设计
<div class='showpostmsg'> 本帖最后由 jennyzhaojie 于 2021-3-20 18:21 编辑<p>在家居环境的测评中，采光质量是一项重要指标。单凭人介绍，显然是缺乏数据支撑的。</p>
<p>使用CH32V103开发板，结合相应的光照强度传感器及OLED显示屏等即可自行设计一个实用的光照强度记录仪，其构成情况如图1所示。 </p>
<p>图1 光照强度记录仪构成</p>
<p> </p>
<p>在该设计过程中，主要涉及以下问题的处理：</p>
<p>1. 数据写入文本文件</p>
<p>在原U盘读写的例程中，已提供了将字符串写入文本文件的方式，但记录仪要求的则是将动态变化的数据写入文件。解决此问题的办法是使用如下语句：</p>
<p>i = sprintf( (PCHAR)buf,"%d %d:%d:%d %d\r\n",c+1,calendar.hour,calendar.min,calendar.sec,sd);</p>
<p> mCmdParam.ByteWrite.mByteCount = i;</p>
<p> mCmdParam.ByteWrite.mByteBuffer = buf;</p>
<p>这样就将多个变量的数据转换为可供存储的字符串，且统计出了其字节长度，并据此来写入文件中。</p>
<p>2.添加RTC计时功能和光照强度采集功能</p>
<p>作为RTC计时功能和光照强度采集功能，均已在前面的帖子中介绍过，但由于是对功能进行集成，所以要对引脚的使用进行重新地调节，比如此前的光照强度采集是使用PA11和PA12，但U盘读写所用的恰恰也是这两个引脚，为此便把其所用的引脚迁移到PA0和PA1上。</p>
<p></p>
<p>图2 USB接口原理图</p>
<p> </p>
<p>将2个功能混合后，其实时检测的输出效果如图3所示。</p>
<p></p>
<p>图3 实时输出效果</p>
<p> </p>
<p>3.添加OLED屏实时数显</p>
<p>为了便于实时观察光照强度的变换，将实时数显功能串入整体的功能处理中，其显示效果如图4所示。</p>
<p></p>
<p>图4 实时数显效果</p>
<p> </p>
<p>4.精准地控制采集间隔</p>
<p>在通常情况下，使用延时函数即可准确地控制采集的间隔。但在处理任务量比较重的情况下，会导致积累性的间隔差异。</p>
<p>此问题的解决方法是按计时值来控制采集间隔，所用的语句为：</p>
<p>Get_Sunlight_Value();</p>
<p>//Delay_Ms(1000);</p>
<p>x=calendar.sec;</p>
<p>while(y==x)</p>
<p>{</p>
<p> x=calendar.sec;</p>
<p>}</p>
<p>y=x;</p>
<p> </p>
<p></p>
<p>图5 采用延时的记录内容</p>
<p> </p>
<p></p>
<p>图6 按计时值的记录内容</p>
<p> </p>
<p>5.采用时长的控制</p>
<p>为了完整地记录一个采集周期的数据，为此将采集时长定为一天,采用间隔为1秒，其控制程序为：</p>
<p>for(c=0; c<86400; c++) // 60*60*24=86400</p>
<p>{</p>
<p>i = sprintf( (PCHAR)buf,"%d %d:%d:%d %d\r\n",c+1,calendar.hour,calendar.min,calendar.sec,sd);</p>
<p>mCmdParam.ByteWrite.mByteCount = i; /* 指定本次写入的字节数 */</p>
<p>mCmdParam.ByteWrite.mByteBuffer = buf; /* 指向缓冲区 */</p>
<p>s = CHRV3ByteWrite( ); /* 以字节为单位向文件写入数据 */</p>
<p>mStopIfError( s );</p>
<p>//printf("成功写入 %02X次\r\n",(UINT16)c);</p>
<p>Get_Sunlight_Value();</p>
<p>//Delay_Ms(1000);</p>
<p>x=calendar.sec;</p>
<p>while(y==x)</p>
<p>{</p>
<p> x=calendar.sec;</p>
<p>}</p>
<p>y=x;</p>
<p>}</p>
<p>结束语：通过对光照强度记录仪的设计，可以发现尽管CH32V103开发板的体积很小，可其性能是很出色的，基于其串口通讯和U盘读写芯片的基地，其出品MCU是独具特色，且十分便于小型应用产品的开发。该设计所用到的U盘读写性能就大大地简化了设计难度并起到了提高设计效率的功效，CH32V103值得在设计中广泛采用。</p>
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Jacktang 发表于 2021-3-20 21:04
和哪个“【RISC-V MCU CH32V103测评】光照强度记录仪的设计 （兼结题报告） ”贴是一样的哦 ...
<p>嗐，先是发错版块了，也没法去除就稍改一点放着吧，管管看是重复的可能就给清除了。</p>
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