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BestFlyBird

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问题是这样的,我用ARM内部的ADC采集模拟信号.采集范围为0-3.3V 现在有个信号既有正值,又有负值,即正半轴和负半轴都要,我该怎样采集的? 尝试了一些方法,在低频的时候效果比较好.但是频率稍微高点波形就不稳定了. 有的时候会有负半轴的尖锋.求一解决办法! 不甚感激!

 

makechinawei

这里可以用外部ADC电路，能够很好的解决这个问题！“但是频率稍微高点波形就不稳定了. ”和你的采样频率即ARM的ADC采样速率有关！

 

ptwang

楼上说的对，你查查你的ARM的采样速率，有可能的话，需要外部告诉AD

 

jxb01033016

可以用运放将负信号转换成正信号,加法电路可以实现.采集范围是0-3.3V,以1.65V为中心,大于1.65V为正,小于1.65为负.由于AD转换需要时间,要求信号的频率远低于采样频率.对尖峰,可以先滤波.

 

thtlj

1，频率高的时候，要保证你的ADC速度够快。 2、如果ADC是单电源，做交流采样的时候，硬件上要做一些处理，把信号平移上来，保证信号大于0。

 

空气

我看了一下 不敢冒失  
首先在信号开始采集之前要
1、进行一个电压抬升  例如你输入的是3Vp-p则要至少抬升1.5V 另外 抬升后的电压必须在AD采样电压范围内 太大就会失真  

2、如果是小信号  则要在采集之前进行一个小信号放大 因为这样才能达到ARM采样的标准 比如 ARM的采样电压范围是0-3V的话，其实当你的信号电压小于1V的时候 它的采样也是不准的 所以要进行小信号放大

3、至于频率高时出现了问题，那你前端加个低通滤波器 （当然低通里肯定要包含你频率高的信号） 如果还不行 那就要考虑你的AD是否能达到那个速度了 如果达不到 就只能用专用AD采样芯片了

ccmj4708

你查查你的ARM的采样速率

jxb01033016

:P