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根据Cypress提供的相关双采样CDS+IIR技术,其实在低端应用时可以使用相关三采样线性插值方法,降低实际参考电压与理论参考电压对采样值产生的误差。
对于增量型AD,Σ-Δ型AD在电压高于参考高电压或者低于参考低电压时出现了循环误采样现象,硬件解决方案可以采样限幅,而软件可以使用切换输入信号进行相关三采样校正,前提是你需要一个可以软件更换输入线的AD,或者采用三个AD(太浪费了),还有一种折中方案,就是手动设定以下提到的电源和地采样的数值或者误差值,对于批量生产的调整不太方便,因为每个AD的性能和电源地干扰都不尽相同。
CTS具体操作如下:(以8位为例,其他以此类推).
初始化:
首先对REFHI进行采样,存储于High_Value,如果这个值小于一半采样范围数值(8位对应128),High_Sigh位(软件定义)置高,然后对REFLO采样,存于Low_Value,如果该值高于一半采样范围值,Low_Sigh位(软件定义)置高。定义两倍大小于采样位数Range_Value,根据High_Sigh和Low_Sigh,if High_Sigh<>0,High_Error=High_Value,else High_Error=256-High_Value;同理,if Low_Sigh<>0,Low_Error=256-Low_Value,else Low_Error=Low_Value.
所以:Range_Value=High_Value-Low_Value(High_Sigh=0,Low_Sigh=0)
Range_Value=High_Value+Low_Error (High_Sigh=0,Low_Sigh<>0)
Range_Value=High_Error+256-Low_Value(High_Sigh<>0,Low_Sigh=0)
Range_Value=High_Error+256+Low_Error(High_Sigh<>0,Low_Sigh<>0)
初始化完毕!
工作阶段:
采样信号存于Signal_Value,首先进行0校正,if Low_Sigh=0,Signal_Value-=Low_Error, else Signal_Value+=Low_Error.然后对该值进行线性插值:Signal_Value左移8位,除以Range_Value(浪费约两倍采样精度次循环时间),即得校准值。
完成阶段:
对于该值可以对每次的值进行单次滑动窗滤波,个人认为这种滤波接近随机干扰的滤波,除了分布是对数分布的(随机干扰一般是高斯分布的)之外。平滑效果比较理想。
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