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[求助] stm32内存压力测试

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一粒金砂(中级)

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发表于 2017-6-9 17:25 | 显示全部楼层 |阅读模式
请问,对stm32的内存进行压力测试,有什么好的方法没?
此帖出自stm32/stm8论坛
梦无边,心无涯!

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发表于 2017-6-9 20:42 | 显示全部楼层
对内存压力测试啥意思,看看硬件好不好使啊?还是测速什么的

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嗯,就是检测内存在不停的读写中会不会出错。当然,测速也是其中一环,但是没有什么好的测速的方法。  详情 回复 发表于 2017-6-13 09:34
training

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五彩晶圆(初级)

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发表于 2017-6-10 01:28 | 显示全部楼层
不明觉厉

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没想的那么高级,都是些基本的事儿。  详情 回复 发表于 2017-6-13 09:32
作为一个水军,就是尽量的多回帖,因为懂的技术少,所以回帖水分大,见谅!
EEWORLD开发板置换群:309018200,——电工们免费装β的天堂,商家勿入!加群暗号:喵

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纯净的硅(高级)

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发表于 2017-6-10 11:57 | 显示全部楼层
写 读 检验 写 读 检验 写 读 检验 写 读 检验 写 读 检验 .....

周而复始 无穷尽也

点评

嗯,我就是想问有木有什么好的校验算法。比如CRC之类的。  详情 回复 发表于 2017-6-13 09:22
天地庄周马;江湖范蠡船。
个性签名还是放QQ号吧,2060347305,添加说明EEworld好友

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一粒金砂(中级)

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发表于 2017-6-10 12:03 | 显示全部楼层
pengyongnet邀请您访问电子工程世界-论坛
http://home.eeworld.com.cn/?fromuser=pengyongnet

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技术导师勋章

发表于 2017-6-10 15:55 | 显示全部楼层
先明确“压力测试”的概念和内容。

点评

就是在不同的温度下对32的内存不停的进行读、写、校验。看读写的数据是否是一致的。这里我想问的是有什么好的校验算法来对数据进行检验没?  详情 回复 发表于 2017-6-13 09:30
上传了一些书籍资料,也许有你想要的:http://download.eeworld.com.cn/user/chunyang

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 楼主| 发表于 2017-6-13 09:22 | 显示全部楼层
ywlzh 发表于 2017-6-10 11:57
写 读 检验 写 读 检验 写 读 检验 写 读 检验 写 读 检验 .....

周而复始 无穷尽也

嗯,我就是想问有木有什么好的校验算法。比如CRC之类的。
梦无边,心无涯!

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 楼主| 发表于 2017-6-13 09:30 | 显示全部楼层
chunyang 发表于 2017-6-10 15:55
先明确“压力测试”的概念和内容。

就是在不同的温度下对32的内存不停的进行读、写、校验。看读写的数据是否是一致的。这里我想问的是有什么好的校验算法来对数据进行检验没?

点评

写入特定的一组数据,然后读出直接比较就是,或者简单做个累加和校验也就行了。不过,你的这个测试纯属多余,ST的产品只要在器件手册载明的工作温度范围内,随你怎么对内存读写多少次都决不可能出错。甚至别说ST这样  详情 回复 发表于 2017-6-13 15:12
梦无边,心无涯!

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 楼主| 发表于 2017-6-13 09:32 | 显示全部楼层

没想的那么高级,都是些基本的事儿。
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 楼主| 发表于 2017-6-13 09:34 | 显示全部楼层
白丁 发表于 2017-6-9 20:42
对内存压力测试啥意思,看看硬件好不好使啊?还是测速什么的

嗯,就是检测内存在不停的读写中会不会出错。当然,测速也是其中一环,但是没有什么好的测速的方法。
梦无边,心无涯!

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发表于 2017-6-13 15:12 | 显示全部楼层
LcCode 发表于 2017-6-13 09:30
就是在不同的温度下对32的内存不停的进行读、写、校验。看读写的数据是否是一致的。这里我想问的是有什么 ...

写入特定的一组数据,然后读出直接比较就是,或者简单做个累加和校验也就行了。不过,你的这个测试纯属多余,ST的产品只要在器件手册载明的工作温度范围内,随你怎么对内存读写多少次都决不可能出错。甚至别说ST这样的大公司了,就是国内的山寨厂也不会有问题,内存存在质量问题在本质上就是一件微小概率事件,且跟温度(器件准许的范围内)无关。不过,可别把FLASH程序存储器当成“内存”了,完全不同的概念,内存是RAM,而FLASH有擦写寿命限制。

点评

嗯,这个知道。只对SRAM的128k的空间在进行测试。知道这个出问题的概率纯属小概率事件,可公司要求进行测试。我原来用了一个数组进行检测,又要求说最好用个校验算法来进行检测,我也很无奈啊。打算用CRC校验了。  详情 回复 发表于 2017-6-14 09:27
上传了一些书籍资料,也许有你想要的:http://download.eeworld.com.cn/user/chunyang

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 楼主| 发表于 2017-6-14 09:27 | 显示全部楼层
chunyang 发表于 2017-6-13 15:12
写入特定的一组数据,然后读出直接比较就是,或者简单做个累加和校验也就行了。不过,你的这个测试纯属多 ...

嗯,这个知道。只对SRAM的128k的空间在进行测试。知道这个出问题的概率纯属小概率事件,可公司要求进行测试。我原来用了一个数组进行检测,又要求说最好用个校验算法来进行检测,我也很无奈啊。打算用CRC校验了。

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用累加和足矣,当然CRC也没什么难的。  详情 回复 发表于 2017-6-14 17:33
梦无边,心无涯!

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发表于 2017-6-14 17:33 | 显示全部楼层
LcCode 发表于 2017-6-14 09:27
嗯,这个知道。只对SRAM的128k的空间在进行测试。知道这个出问题的概率纯属小概率事件,可公司要求进行测 ...

用累加和足矣,当然CRC也没什么难的。
上传了一些书籍资料,也许有你想要的:http://download.eeworld.com.cn/user/chunyang

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