电路板老化试验怎么做

houn

电路板老化试验怎么做 [复制链接]

 

我单位电源设备使用不到一年就成批损坏。电源9伏0.6A, 24H连续工作.本人设计线性电源，使用寿命要大于26280小时，即三年，现在想做寿命试验，请大家赐教，怎么做

白丁

不知道那些无故障工作xxxxx小时怎么测试出来的，我所接触到的就是高温，某个温度工作多长时间等于常温多少时间，有个换算公式

strong161

一般来说可以进行加速老化实验，不同的行业，不同的部件会有对应的计算方式，可以参考相关经验，比如 需2-8度存放物品 37度加速老化一周 相当于一年有效期，实际上这种加速时间与长期稳定性的对应时间需要实际厂家确认，还有些物品是不适合通过加速稳定性来确认期长期有效性的。对于开关电源来说你可以参照国际 GB 2423 相关内容进行测试

houn

strong161，我做的是线性电源。降压，整流 ，CLC滤波，7809稳压，比较简单的。现在就是想用老化试验测试使用寿命

maychang

houn 发表于 2017-5-22 22:13
strong161，我做的是线性电源。降压，整流 ，CLC滤波，7809稳压，比较简单的。现在就是想用老化试验测试使 ...

以我之见，先把贵“单位”这种适配器“使用不到一年就成批损坏”的原因查清楚最重要。一共没有几个元器件，容易查。是变压器烧毁，还是整流管烧毁，还是电容击穿……

maychang

houn 发表于 2017-5-22 22:13
strong161，我做的是线性电源。降压，整流 ，CLC滤波，7809稳压，比较简单的。现在就是想用老化试验测试使 ...

在没有查清楚薄弱环节之前做“老化试验”，高温之下仍然是连续烧毁，你怎么改进？

qwqwqw2088

在例行试验室设备进行，找不可靠缺陷，在高温环境箱内，用最大负载，或最大功率，电压开关冲击，高速频率接通和断开

一般例行实验室有测试标准和方法

fzyiye

1.先找出具体故障点并分类（可能故障点不同，但故障原因是一样的）
2.统计故障件使用环境的分布情况
3.综合1，2的结果确定故障主要（28原则）影响因素是什么进行整改
4.使用阿氏曲线模型评估产品寿命（可同时将原设计产品一同进行测试）

chengxl

温度很大的关系，还有加速老化只是一个缩小版，不能完全代替，，真正合格的应该是产品质量，

huaiqiao

“电源设备使用不到一年就成批损坏”，这个要看是不是设计上的缺陷，老化不一定能跑出你设计上的缺陷。

这么给你说吧，有些时候，设计上的缺陷老化是跑不出来的。只有当使用到客户的具体的环境中才会出现。

希望楼主考量客户使用环境(考量这种环境会不会导致你的损坏)，还有你的产品的设计等诸多因素，并不是一味滴盯着老化就能解决你的产品“电源设备使用不到一年就成批损坏”这种问题的。

MrKingMCU

比较同意楼上几位的观点，首先要看设计是否有不合理之处，尤其是温度方面的考量，建议在恒温箱里测一下，使用最大负载直接挂上去，跑几个小时，同时监测每个器件的温度，看一下是否有器件超过了规格要求。

PowerAnts

白丁 发表于 2017-5-22 21:52
不知道那些无故障工作xxxxx小时怎么测试出来的，我所接触到的就是高温，某个温度工作多长时间等于常温多少 ...

增加样本数, 比如说设计要求是10万小时, 你希望100小时出结果, 那就同时用1000台来试验. 必要时还有加速老化等手段.

PowerAnts

线性电源发热大, 重点查电容, 高热的器件, 大电流的接触点等位置

白丁

PowerAnts 发表于 2017-5-23 23:30
增加样本数, 比如说设计要求是10万小时, 你希望100小时出结果, 那就同时用1000台来试验. 必要时还有加速 ...

10wh可不等于100h*1000啊，差远了，尤其是输出状态取决于当前输入及当前状态，而当前状态又千变万化，无穷无尽的时候

PowerAnts

白丁 发表于 2017-5-23 23:39
10wh可不等于100h*1000啊，差远了，尤其是输出状态取决于当前输入及当前状态，而当前状态又千变万化，无 ...

不懂, 咋不学习呢? 关键词: MTBF 失效率

PowerAnts

需要说明的是: MTBF是假设个体之间无差异, 统计上也只能这么干, 必须这么干. 美国军方最先这么干, 于是全世界都这么干, 跟QAL品质检验手段一样. 1000台产品, 抽32台全检, 1台有大问题可以全收货, 2台有大问题全退货(按验收标准不同有出入, 只是举例, 我20年前干过半年品质工程师, 多少记得一些)

白丁

PowerAnts 发表于 2017-5-23 23:43
不懂, 咋不学习呢? 关键词: MTBF 失效率

都说了，当前状态千变万化，个体之间差异千变万化，这只是说输入。再给你举个其他例子，MLC nand flash PE cycle 5k次，你1000个盘每个盘PE 100次和一个盘PE10w次能一样吗？

白丁

PowerAnts 发表于 2017-5-23 23:50
需要说明的是: MTBF是假设个体之间无差异, 统计上也只能这么干, 必须这么干. 美国军方最先这么干, 于是全世 ...

假设你有一个产品测试101个小时出现问题，很固定，那你用1000个样品都测试100h有什么用呢，根本达不到触发失效的条件，假如你增大测试样品数量比如测试10w个每个测试100小时，那是不是就能说1000w小时的无故障工作了？你这个测试方法在失效概率任何时间都是均等的情况下适用吧。

白丁

PowerAnts 发表于 2017-5-23 23:50
需要说明的是: MTBF是假设个体之间无差异, 统计上也只能这么干, 必须这么干. 美国军方最先这么干, 于是全世 ...

我这里只是提供一种测试情况，并没有否定你的测试方法，只是说你的方法有一定的适用范围。再举个例子（以下数据纯属虚构），个人pc可以工作1000小时不宕机，服务器可以工作10w小时不宕机，假如我有个人pc需要测试，是不是测试100台就可以声称达到服务器标准了，测试1000台就远远超过服务器质量了，显然这个不成立，系统有一定容错能力，但随着时间的增长，不可纠正的错误越来越多，当系统不能容忍积累的错误时就挂了

PowerAnts

白丁 发表于 2017-5-24 08:44
都说了，当前状态千变万化，个体之间差异千变万化，这只是说输入。再给你举个其他例子，MLC nand flash P ...

你这就是瞎举例了, 任何测试, 个体能承受远超于平均参数的测试吗? 以人的平均寿命为例, 一线城市平均为80岁上下, 你能活到1600岁吗? (按你17楼的20倍考虑)