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[讨论] LTC2380-24焊接和调试

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发表于 2017-1-4 17:35:13 | 显示全部楼层 |阅读模式
第一个板子焊坏了

我先焊的LTC6655基准

然后测量基准输出正常才焊的LTC2380-24

焊好以后把周边的电路简单焊上后上电

先只给基准供电

测量基准输出发现是0V

断电后测量基准对地短路

补焊过几次都是短路

用放大镜看6脚和7脚没有粘连

去掉0欧电阻证明短路是LTC2380-24这边

又用两个烙铁将LTC2380-24取下测量6脚和7脚还是短路状态

用烙铁划了几下6脚和7脚后再测量不短路了

将芯焊回

测量REF和GND未短路

给基准上电

测量REF输出又为0V

断电测量REF和GND又短路

排除焊接粘锡问题

怀疑可能是LTC2380-24没有上电就给REF施加电压造成

接上LTC2380-24的3.3V和2.5V

同时给基准供电

REF输出还是0V

断开后测量2脚依然短路

怀疑REF/DGC没有路线导致

将REF/DGC跳到REF

再上电REF输出5V

以为问题解决了

经过几次上电后又出现短路(在通电的时候切换REF/DGC路线)

有时不给基准供电,只给LTC2380-24的3.3V和2.5V供电

断电后过一段时间REF和GND的短路就会消失

怀疑LTC2380-24可能受到物理损坏造成这种不稳定




这是焊坏的板子,接线端子只有2个,后来拆下用到新板子上




于是又焊了第二块板子

焊接时一个引脚一个引脚焊的,没有挂锡,防止高温损坏器件

同样先测量LTC6655输出正常后再焊接ADC

焊好后将REF/DGC通过跳线跳在REF处

ADC的3.3V2.5V和REF的6V同时上电

测量基准输出正常

断电后将REF/DGC跳线跳到GND再上电输出也正常(没敢在通电的时候切换跳线)

经过几次测试没有发现短路



使用MSP430FR5969通过简单的SPI总线读了一下ADC的数据

有输出,且低位跳动,初步判断ADC输出正常

下一步准备焊接ADC驱动器和其它外围器件后再进行测试






这是第二块板子,接线端子在第一块板子上焊接的时候被烙铁碰到已经变形了







经过这次调试猜测第一个ADC损坏的几种可能

1、焊接温度过高(因为使用了4层板,引脚有大面积铺铜,使用了无铅焊锡等,导致烙铁需要对引脚长时间加热)

2、静电问题(没有静电手环,但取芯片和焊接时都洗手和摸门把手放电,不过后来发现坐的塑料凳子上吸附着头发,有可能屁股和凳子摩擦产生静电烧坏芯片,感觉可能性也不大)

3、没有给ADC供电就给REF引脚施加基准电压

4、REF/DGC引脚悬空



因为只有2片LTC2380-24样片,本来是要焊2个板子做同时采样的,现在只有一个能用

不敢再做实验证明是否是3和4问题导致芯片烧坏





msp430fr5969调试ltc2380-24的简单代码


//*******************************************************************************

// LTC2380-24         MSP430FR5969

// RDL          <-    GND

// OVDD               NULL

// GND                GND

// SCLK         ->    P1.5

// SDO          <-    P1.7

// BUSY         ->    P1.6

// CNV          <-    P1.3

//******************************************************************************

#include "msp430.h"

#include "mcu_config.h"

#include "hal_spi.h"

 

uint8_t buf[3];

 

 

void ltc2380_24_init(void)

{   

  BUSY_INIT();

}

int main(void)

{

  uint16_t i;

  WDTCTL = WDTPW | WDTHOLD;                 // Stop WDT

 

 

  // Disable the GPIO power-on default high-impedance mode to activate

  // previously configured port settings

  PM5CTL0 &= ~LOCKLPM5; 

 

//  pwm_init();

  hal_spi_init();

  CNV_LOW( );

  while(1)

  {

      //启动转换

      CNV_HI( );

      CNV_LOW( );

      //等待BUSY变低

      while(BUSY_IN() > 0)

      {

       

      }

      buf[0] = hal_spi_read_write_byte(0xff);

      buf[1] = hal_spi_read_write_byte(0xff);

      buf[2] = hal_spi_read_write_byte(0xff);

      __no_operation();                         // For debugger

  }

}

 

 

 

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五彩晶圆(中级)

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发表于 2017-1-4 18:04:29 | 显示全部楼层
可能就是板子有问题。
    懒得很


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纯净的硅(初级)

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发表于 2017-1-4 20:05:47 | 显示全部楼层
感觉4的问题


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一粒金砂(中级)

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发表于 2017-4-16 17:35:08 | 显示全部楼层
你好,强烈需要你的编写代码参考一下,我使用STM32编程,望指教一下

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就是简单读取SPI数据,控制好CNV引脚进行采样就好了  详情 回复 发表于 2017-4-17 10:07


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 楼主| 发表于 2017-4-17 10:07:02 | 显示全部楼层
tianfuze 发表于 2017-4-16 17:35
你好,强烈需要你的编写代码参考一下,我使用STM32编程,望指教一下

就是简单读取SPI数据,控制好CNV引脚进行采样就好了
虾扯蛋


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一粒金砂(中级)

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发表于 2017-4-17 13:49:39 | 显示全部楼层
littleshrimp 发表于 2017-4-17 10:07
就是简单读取SPI数据,控制好CNV引脚进行采样就好了

你好楼主 百忙打扰 为啥我的程序只能采集一次 然后BUSY信号一直高电平 望楼主百忙指教

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这个和SPI通信无关 可以用示波器测量一下CNV和BUSY 正常情况应该在CNV拉高的同时BUSY变高 一个转换周期后BUSY变低  详情 回复 发表于 2017-4-17 14:15


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 楼主| 发表于 2017-4-17 14:15:57 来自手机 | 显示全部楼层


这个和SPI通信无关
可以用示波器测量一下CNV和BUSY
正常情况应该在CNV拉高的同时BUSY变高
一个转换周期后BUSY变低

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一粒金砂(中级)

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发表于 2017-4-17 14:33:08 | 显示全部楼层
littleshrimp 发表于 2017-4-17 14:15
这个和SPI通信无关
可以用示波器测量一下CNV和BUSY
正常情况应该在CNV拉高的同时BUSY变高
一个转换周 ...

楼主 你好 再打扰你一下 SPI速度设置多少,对AD采样有啥影响 STM32可分频为36M  9M 4.5M 281.25K

点评

100M以内都可以 36M将将能满足在1.5MSPS * 24BIT的要求 传统模式(一次转换度一次结果)下要在下一次转换前把数据读出 如果你不要求这么高的采样率 可以用多个结果取平均模式  详情 回复 发表于 2017-4-17 15:30


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 楼主| 发表于 2017-4-17 15:30:53 来自手机 | 显示全部楼层


100M以内都可以 36M将将能满足在1.5MSPS * 24BIT的要求 传统模式(一次转换度一次结果)下要在下一次转换前把数据读出  如果你不要求这么高的采样率 可以用多个结果取平均模式


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