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Fluke 便携式红外热像仪高端应用——液晶屏坏点检测

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一粒金砂(初级)

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发表于 2015-8-12 10:12 | 显示全部楼层 |阅读模式

     随着红外技术的不断发展,红外线热成像仪逐渐被应用于越来越多的民生行业,吃、穿、住、行无所不在。美国福禄克热像仪作为行业佼佼者,通过多年的推广和开发,已获得各领域工程师的广泛认可,此文将通过真实案例和热图的解说来阐述美国福禄克便携式红外热像仪是如何助力液晶屏坏点检测的。
    液晶屏可能会由于质量问题造成坏点,但坏点通常很小,要检查出和分析其损坏原因非常困难,红外检测是目前行之有效的检测方式,但微米级级别的坏点和非常小的温差是红外检测的难点,本文以案例叙述使用福禄克大师之选系列红外热成像仪对液晶屏进行坏点检测的过程和系统解决方案,。



检测案例:
    某知名液晶屏制造商,需要对液晶面板上的像素点进行检测,如果有坏点,或其它的缺陷,因其内阻较高,在热像图中呈现的是热点,该现场存在两个检测难点:
1、目标小:液晶屏每个像素点尺寸为微米级别,最小的像素点尺寸仅为40微米,各型号略有差异。
2、温差小:受到液晶屏整体发热的能量传递因素影响,坏点的温度与正常部位的温差一般在1之内。
解决方案:
1、配套微距镜头,可根现场实际情况配置微距镜头2或微距镜头3。
2、安装三脚架和二维可调精密位移云台。
3、建议将调色板设置为灰度模式,方便小温差情况下的观测。
4、因液晶屏表面是玻璃材质,检测时注意人员或其他设备不要在液晶屏表面造成反射干扰,建议用不透红外能量的材料(如布、纸张等进行遮挡,不要用塑料纸)。



拍摄机型:Fluke TiX660配微距镜头
行业应用:液晶屏的制造商和相关器件的配套制造商等。



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