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创芯检测 | 一些常见电子元器件失效检测 [复制链接]

电子设备中使用着大量各种类型的电子元器件,设备发生故障大多是由于电子元器件失效或损坏引起的。失效分析在产品的可靠性质量保证和提高中发挥着重要作用,在产品的研发、生产、使用中都需要引入失效分析工作。下面是部分常见电子元器件失效检测整理的相关内容,供大家参考。

电子元器件主要包括元件和器件,电子元件是生产加工过程中分子成分不被改变的成品,比如:电容、电阻和电感等。电子器件是生成加工过程中分子结构发生变化的成品,比如:电子管、集成电路等。

一些常见电子元器件失效检测

电阻类元器件

电阻类元器件出现故障在电子设备中占很大的比例,电阻可以分为分流、降压、负载、阻抗匹配等功能。根据构造的不同,电阻类元器件可以分为线绕电阻、非线绕电阻。

电阻类元器件失效的主要方式有接触损坏、开路以及引线机械损伤。温度变化对电阻的影响主要是温度升高时,电阻的热噪声增加,阻值偏离标称值,允许耗散概率下降等。但我们也可以利用电阻的这一特性,比如,有经过特殊设计的一类电阻:PTC(正温度系数热敏电阻)和NTC(负温度系数热敏电阻),它们的阻值受温度的影响很大。机械振动会使焊点、压线点发生松动,导致接触不良等机械损伤。

电容类元器件

电容器常见的故障模式主要有:击穿、开路、参数退化、电解液泄漏及机械损伤等。其中,击穿是较为常见的一种故障模式,造成击穿的原因主要有以下几点:1)介质中存在疵点、缺陷、杂质或导电离子;2)介质材料的老化;3)金属离子迁移形成导电沟道或边缘飞弧放电;4)介质材料内部气隙击穿或介质电击穿;5)介质在制造过程中机械损伤;6)介质材料分子结构的改变等。电容在使用中非常容易发生击穿故障,导致损坏。

开路也是导致电容失效的常见故障,引出线与电极接触点氧化会造成低电平开路,引出线与电极接触不良或绝缘、工作电解质的干涸或冻结、电解电容器阳极引出金属箔因腐蚀或机械折断会导致开路,在机械应力作用下工作电解质和电介质之间出现瞬时开路等。另外,潮湿、老化、热分解、电极材料的金属离子迁移、残余应力存在或变化、表面污染、材料的金属化电极的自愈效应、工作电解质的挥发和变稠、电极的电解腐蚀或化学腐蚀和杂质或有害离子的影响等则是造成电容电参数退化故障的诸多原因。

电感类元器件

电感类元器件涉及到变压器、电感、滤波线圈、震荡线圈等。电感类元器件的大部分故障是外界因素导致的,比如:变压器的温度升高、负载短路使线圈经过的电流过大等,都会使线圈出现短路、短路以及击穿等故障。在集成电路中,不论哪一部分出现问题,整体都无法正常运行,比如:电极短路、开路、机械磨损、可焊接性差等都会失效。失效主要分为彻底损坏和热稳定性不良等,热稳定性失效主要出现在高温或者低温,超出了器件的工作温度范围而失效。

集成模块、电路类故障 

集成块类故障主要由于电极开路、电极短路、引线折断、机械磨损和封装裂缝和可焊接性差等原因导致的。而集成电路则由于其内部结构的复杂、功能的多样,从而导致其任何一部分损坏都无法正常工作。其故障类型包括:彻底损坏和热稳定性不良。

那如何有效的找到失效的电子元器件,并更换或者修复问题呢?在调试中,出现电路无法工作或工作不正常的问题时。首先通过动态观察法,就是将线路设备通电的情况下,听、看、摸、闻等方法对电子元器件的故障进行判断。比如:听设备是不是有异常的声音,仔细看电路内有没有冒烟、火花等情况;摸一摸元器件、电路有没有发烫的情况;闻一闻有没有焦糊等味道。也可通过万用表测量电路中通断情况,通过测量正常与不正常电路中各类值来判断。

以上便是此次创芯检测带来的“电子元器件失效检测”相关内容,希望能对大家有所帮助,我们将于后期带来更多精彩内容。公司检测服务范围涵盖:电子元器件测试验证、IC真假鉴别,产品设计选料、失效分析,功能检测、工厂来料检验以及编带等多种测试项目。欢迎致电创芯检测,我们将竭诚为您服务。

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公司简介

    深圳创芯在线检测技术有限公司(以下简称:创芯检测)于2018年成立。我公司拥有数十人规模的专业工程师及行业精英团队,建有标准化实验室3个,实验室面积1000平米以上,可承接电子元器件测试验证、IC真假鉴别,产品设计选料、失效分析,功能检测、工厂来料检验以及编带等多种测试项目。

    2020年6月,为了进一步拓展市场服务,创芯检测全资收购了深圳市英赛尔电子有限公司,加强在芯片分析方面的测试和分析开发能力,现已开发上千种功能测试板,快捷高效满足大批量的测试需求。

    创芯检测始终秉持"专业,权威,高效,创新"的宗旨,重金购置国际先进的检测设备,测试严格遵照国际检测标准及方法,现已取得CNAS认证并获国际互认资质,客户群涵盖海内外多个国家和地区,是国内素质过硬、知名度高的专业IC检测机构。

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