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一粒金砂(高级)

EOS的产生与防护设计 [复制链接]

什么是EOS?

在半导体环境中,电过载(EOS)这一术语用于说明当电子器件承受的电流或电压超出器件的规范限值时可能发生的一种现象。电过载可能会对整个器件或器件的一部分造成热损坏。热损坏是因发生EOS事件期间产生过多热量而引起。当器件承受高电压或高电流时,器件内的连接会发生电阻加热,从而使温度过高。通常,过多热量处于施加电气应力的区域周围。这会导致器件损坏,并且大多数情况下,这种损坏肉眼可见。

EOS可能因单次非重复性事件或者持续的周期或非周期事件而引起。EOS事件可以是瞬时事件(仅持续几毫秒),在满足条件的情况下也可以是持续事件。EOS能量耗尽后,器件可能永久损坏,也可能无法正常工作或者只有一部分可以正常工作。

  QQ图片20210818110337.png

 

EOS测试与标准

 

对于EOS事件,在诸多的干扰中浪涌的能量是最大的,给设备的破坏力最强,因此在这里提出了使用1.2/50uS~ -8/20uS 的波形进行验证,测试等级一般为100V~350V/内阻为2ohm.

QQ图片20211119150912.png

 

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