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一粒金砂(初级)

MTI Instruments一维激光传感器 [复制链接]

 

MTI Instruments提供用作测试测量位移和区域的高速、高分辨率和高精密度一维激光传感器(非接触线性相位传感器)。MTI Instruments的激光测量系统能够轻松设置区域并将其与可见激光区域点对齐(在整理激光传感器之前检查激光安全检测标准)。因为MTI Instruments1D激光位移测量传感器配置了自动增益功能模块,因此不易受到表面层(即能量反射)纹理、颜色或杂散光的干扰。MTI Instruments的大量非接触式位移传感器,包含激光三角测量传感器,工作距离为300mm,检测范围为200mm,测试测量分辨率低于1μm

MICROTRAK 4:一维激光位移传感器

MICROTRAK 4是用作测试测量高度、厚度、位移、振动等的终极激光位移传感器。传感器的帧速率为40K采样/秒。确保0.03%FSO(满刻度输出)精密度和重复性的线性MICROTRAK3:一维激光位移传感器

高分辨率高速激光位移传感器(非接触式线性位移传感器)选用全新的CMOS传感器技术,即便在最困难的测试测量应用中也是如此。MICROTRAK3是操作过程自动化、质量控制和工具自动化控制的基本测量工具。它主要用于厚度测试测量、尺寸位移、零件轮廓、振动测试、堆叠测试测量和其他应用领域

厚度测量系统

Microtrak 3激光测厚仪系统将MTI Instruments经验证的激光三角测量传感器与模块化控制器相互结合,它可以用于一个独立的解决方案运作,也能够与PLC/PC一起运作。它通过高速内部采样和数字厚度计算优化了激光厚度测试测量的应用领域,并减少了传统模拟求和方法中时常遇到的偏差。

深圳市立维创展科技有限公司,优势直接渠道提供MTI Instruments测试设备订货服务,欢迎咨询。

详情了解MTI Instruments测试设备请点击:http://www.ldteq.com/public/brand/70.html

或联系我们的销售工程师:0755-83642657 QQ2295048674 

 

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