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一粒金砂(初级)

吉时利Keithley2612B源表SMU双通道200V,10A脉冲 Keithley2612A [复制链接]

吉时利Keithley2612B源表SMU双通道200V,10A脉冲 Keithley2612A

公司名称:深圳市捷威信电子仪器
联系人:刘小姐18124618938 V:18025446127

座机号:0755-27538807

QQ:2770811561

E-mail:liu18124618938@126.com

地址:深圳宝安沙井广新生大厦

双通道系统 SourceMeter 仪器(200V,10A 脉冲)
紧密集成的 4 象限电压/电流源和测量仪器提供一流的性能和 6 ? 位分辨率
内置的基于 Java 的测试软件可通过任何浏览器实现真正的即插即用 I/V 表征和测试。
TSP(测试脚本处理)技术在仪器内嵌入完整的测试程序,以实现一流的系统级吞吐量
无需主机的多通道并行测试的 TSP-Link 扩展技术
吉时利 2400 型 SourceMeter SMU 仪器的软件仿真
USB 2.0、LXI-C、GPIB、RS-232 和数字 I/O 接口
免费软件驱动程序和开发/调试工具
可选的 ACS-Basic 半导体元件表征软件
提供的配件:

操作员和编程手册
2600-ALG-2:带鳄鱼夹的低噪声三轴电缆,2m(6.6 英尺)(2634B 和 2636B 提供两条,2635B 提供一条)
2600 套件:带应变消除装置和盖子的匹配螺钉端子连接器 (2601B/2602B/2604B/2611B/2612B/2614B)
CA-180-3A:TSP-Link/以太网电缆(每台两条)
TSP Express 软件工具(嵌入式)
测试脚本生成器软件(在 CD 上提供)
LabVIEW驱动程序
ACS基础版软件(可选)
2600B 系列系统 SourceMeter SMU 仪器是业界领先的电流/电压源和测量解决方案,采用吉时利第三代 SMU 技术构建。2600B 系列提供单通道和双通道型号,将精密电源、真实电流源、6-1/2 位数字万用表、任意波形发生器、脉冲发生器和电子负载的功能整合到一个紧密集成的仪器中. 结果是一个强大的解决方案,可显着提高从台式 I/V 表征到高度自动化生产测试等应用的生产力。对于台式使用,2600B 系列仪器具有基于 Java 的内置软件,可通过任何浏览器、在任何计算机上、在世界任何地方进行即插即用的 I/V 测试。对于自动化系统应用,2600B 系列的测试脚本处理器 (TSP) 从仪器内部运行完整的测试程序,以获得业界最佳的吞吐量。在更大的多通道应用中,吉时利的 TSP-Link 技术与 TSP 协同工作,以实现高速、每引脚 SMU 并行测试。由于 2600B 系列 SourceMeter SMU 仪器具有完全隔离的通道,不需要大型机,它们可以随着您的测试应用程序的发展而轻松地重新配置和重新部署。

基于 Java 的即插即用 I/V 测试软件

2600B 系列是唯一具有基于 Java 的内置测试软件的 SMU 仪器,可通过任何浏览器、在任何计算机上、在世界任何地方实现真正的即插即用 I/V 表征。这种独特的功能可提高研发、教育、QA/FA 等广泛应用的生产力。只需通过随附的 LAN 电缆将 2600B 连接到互联网,打开浏览器,输入 2600B 的 IP 地址,然后开始测试。生成的数据可以下载到电子表格(如 Excel)中以进行进一步分析和格式化,或包含在其他文档或演示文稿中。

使用 TSP 技术实现自动化测试的无与伦比的吞吐量

对于需要最高水平自动化和吞吐量的测试应用,2600B 型的 TSP 技术可提供行业最佳性能。TSP 技术远远超出了传统的测试命令排序器……它完全嵌入然后从 SMU 仪器本身执行完整的测试程序。这实际上消除了进出 PC 控制器的所有耗时的总线通信,从而显着缩短了整体测试时间。

采用 TSP-Link 技术的 SMU-Per-Pin 并行测试

TSP-Link 是一种通道扩展总线,可将多个 2600B 系列互连并作为一个紧密同步的多通道系统运行。2600B 的 TSP-Link 技术与其 TSP 技术协同工作,以实现高速、每引脚 SMU 并行测试。与其他高速解决方案(如大型 ATE 系统)不同,2600B 可实现并行测试性能,而无需大型机的成本或负担。基于 TSP-Link 的系统还具有卓越的灵活性,允许随着测试要求的变化快速轻松地重新配置系统。

2400 型软件仿真

2600B 系列与为吉时利 2400 型 SourceMeter SMU 仪器开发的测试代码兼容。这样可以更轻松地从基于 Model 2400 的测试系统升级到 2600B 系列,并且可以将测试速度提高多达 80%。此外,它还提供了从 SCPI 编程到 Keithley 的 TSP 技术的迁移路径,实施后可以进一步缩短测试时间。为了完全支持传统测试系统,该模式还完全支持 Model 2400 的源内存列表测试排序器。

第三代 SMU 仪器设计确保更快的测试时间

基于早期 2600 系列仪器经过验证的架构,2600B 系列的 SMU 仪器设计以多种方式提高了测试速度。例如,较早的设计使用并联电流测距拓扑,而 2600B 系列使用获得专利的串联测距拓扑,可提供更快、更平滑的量程变化和更快稳定的输出。

2600B 系列 SMU 仪器设计支持两种操作模式以用于各种负载。在正常模式下,SMU 仪器提供高带宽性能以实现最大吞吐量。在高电容(高 C)模式下,SMU 仪器使用较慢的带宽来提供具有较高容性负载的稳健性能。

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