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一粒金砂(初级)

半导体器件高加速应力寿命测试设备之-HAST试验箱 [复制链接]

    不断追求卓越品质,显匠心持续加强技术。创新促发展,做精做强模拟环境可靠性测试设备为客户提供优质的产品和服务,全力以赴把企业做大做强,这是瑞凯仪器工作的努力方向,也是瑞凯仪器奋斗的动力源泉。
    东莞市瑞凯环境检测仪器有限公司始于1997年,专注模拟环境可靠性测试设备20余载,是国内同时拥有强大研发技术能力和全球化服务能力的高新企业。致力于为电子产品、汽车及零部件、塑胶、五金、磁材、通讯等行业客户提供环境温湿度可靠性测试设备、智能化试验解决方案,以稳定高速的设备和优质高效的服务赢得客户的肯定与信赖。

瑞凯仪器.jpg

    瑞凯仪器高度重视产品研发和技术创新,打造专业且强大的研发团队,与众多知名院校建立紧密的产学研合作关系,提供强劲的技术支撑,科技创新成果丰硕,拥有“国家级高新技术企业”、“广东自主创新示范企业”、“东莞市知名品牌企业”等荣誉称号。
    瑞凯仪器掌握HAST试验箱、高低温试验箱、冷热冲击试验箱的核心技术,将继续紧跟市场发展步伐,加强对自动化、智能化装备的研发,着力提升核心竞争力,助推企业做大做强。
     半导体器件测试HAST试验箱解决方案
    在半导体器件生产过程中,很多时候会因外部环境问题导致产品失效、损耗,特别是芯片和封装的因数变化还无法达到使用的需求。因此,在半导体器件批量生产前需做一系列的可靠性测试,评价非气密封装半导体器件在潮湿的环境下的可靠性。
    一般通过施加严酷的温度、湿度和偏置条件来加速潮气穿透外部保护材料(灌封或密封)或外部保护材料和金属导体的交接面。此试验应力产生的失效机理通常与“85/85”稳态温湿度偏置寿命试验(见IEC 60749-5)相同。试验方法可以从85℃/85% RH稳态寿命试验或本试验方法中选择。在执行两种试验方法时,85℃/85%RH稳态寿命试验的结果优先于强加速稳态湿热试验(HAST)。

HAST试验箱.jpg

    >> HAST试验箱
    瑞凯仪器HAST试验箱用于评估非气密性封装IC器件、金属材料等在湿度环境下的可靠性。通过温度、湿度、大气压力条件下应用于加速湿气的渗透,可通过外部保护材料(塑封料或封口),或在外部保护材料与金属传导材料之间界面。它采用了严格的温度,湿度,大气压、电压条件,该条件会加速水分渗透到材料内部与金属导体之间的电化学反应。失效机制:电离腐蚀,封装密封性。

详情页_01.jpg

    HAST试验箱产品特点:
    可定制BIAS偏压端子组数,提供产品通电测试
    通过电脑安全便捷的远程访问
    多层级的敏感数据保护
    便捷的程序入口、试验设置和产品监控
     试验数据可以导出为Excel格式并通过USB接口进行传输
    可提供130℃温度、湿度85%RH和230KPa大气压的测试条件。

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