学知识，赢好礼｜泰克半导体材料与器件测试技术电源特性篇！

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学知识，赢好礼｜泰克半导体材料与器件测试技术电源特性篇！ [复制链接]

功率半导体器件处于现代电力电子变换器的核心地位，它对装置的可靠性、成本和性能起着十分重要的作用。功率半导体器件根据集成程度可分为功率IC和功率半导体分立器件。功率IC是将功率分立器件与驱动、保护等电路集成在一个半导体晶片上；功率分立器件可分为二极管、晶体管、晶闸管三大类别，晶体管中MOSFET、IGBT、BJT应用广泛。

跟泰克学习半导体材料与器件测试技术电源特性知识，赢好礼啦~

 

【活动详情】泰克半导体材料与器件测试技术电源特性篇
 

【活动时间】即日起——2021年4月15日

 

【参与有礼】 进入活动详情页，点击页面>>“ 我要答题”按钮，根据页面泰克半导体材料测试技术资料电源管理篇内容，填写个人信息、答题后提交即可。

 

【分享有礼】微信识别下方分享二维码，页面将弹出您的专属分享卡，保存专属分享卡图片到您的手机并分享给好友，好友成功参与，您赢取精美好礼！

【活动规则】
1. 活动结束后，我们将从答对2题及以上的电子相关网友中抽取40名送出好礼；
2. 分享活动，好友成功参与，也可赢取精美好礼；
3. 马甲、用户资料不详等违规行为，视为无效参与。

 

【ONE PAGE测试方案】
▪  二维/石墨烯材料电阻率测试方案
▪  泰克MOSFET测试方案简介
▪  泰克功率器件IGBT测试方案简介
▪  泰克宽禁带材料测试简介
 

【半导体材料与器件测试技术云讲堂系列】
▪  二维材料石墨烯及其电子器件IV和CV测试
▪  功率IGBT器件测试及自动化简介
▪  MOSFET的准静态CV、超低频CV测试
▪  宽禁带半导体（GaN、SiC）材料及器件测试
 

【深入阅读】
▪ 半导体特性分析方法和技术
▪ 射频功率放大器的直流电特性分析
▪ 使用 4200A-SCS 参数分析仪对 MOS 电容器进行 C-V 特性分析
▪ 使用4200A-CVIV多路开关进行高电压和大电流C-V测量
▪ 使用4200A-SCS参数分析仪对碳纳米管晶体管(CNT FET)进行电学特性分析
▪ 使用4200A-SCS参数分析仪优化低电流测量
▪ 使用4200-CVU-PWR、C-V功率封装，与4200A-SCS参数分析仪一起进行高电压和大电流C-V测量
▪ 使用4225-RPM远程放大器开关在直流I-V C-V和脉冲I-V测量之间自动切换
 

【4200A-SCS 参数分析仪】
用于测试分离器件、材料的直流特性（IV/IT/VT/RT曲线），电容电压特性CV曲线和脉冲特性测试（PMU）,支持超高速脉冲测试。
> 视频：4200A 如何让工作变得更轻松
> 产品技术资料下载
> 立即订购
 

【礼品设置】
幸运礼：25份30份京东卡，15份笔记本支架；分享礼：10份30元京东卡，5份超大鼠标垫