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一粒金砂(初级)

KZT DDR4*8内存颗粒测试治具 [复制链接]

 产品特点及性能参数:

 

1、产品通用性高,只需换颗粒限位框,即可测试尺寸不同的颗粒(宽度≤13MM 长度≤14MM);

 

2、产品全新设计,相比以前更薄,预留插槽卡位,不需转接槽可直接插到测试板上进行测试,

 

3、把频率衰减降到最低,减少误测;

 

4、有球无球均可测试,颗粒压板通过使用高精度自适应弹簧保证每个 IC 平衡下压;

 

5、采用手动翻盖滚轴式结构,操作省力方便,相比同类产品减少磨损,达到更高的使用寿命;

 

6、采用台湾著名厂家生产的内存颗粒测试专用 PCB,金手指、IC 焊盘镀金层是普通 PCB 的5倍,保证测试治具有更好的导通和耐磨性 ,相比同类产品具有更好的超频性能及使用寿命;

 

7、采用带定位孔内存颗粒测试专用 PCB,探针板与 PCB 孔定位,保证探针与 PCB 精确定位,如有损坏用户可自行更换维修,简单方便,减少返厂维修,为客户争取宝贵时间;

 

8、采用超短进口双头探针设计,相比同类测试产品使 IC 与 PCB 之间数据传输距离更短,从而使测试更稳定,频率更高,DDR4 系列频率2133MHZ起步;

 

9、探针板采用定位销加螺丝结构,在使用过程中如有探针损坏,客户可自行更换维修,方便

维护,为生产争取宝贵时间;

 

10、高精度合金 IC 定位框,保证 IC 定位精确,取放 IC 方便,从而提高测试效率;

 

11、测试寿命长,有效测试 10 万次以上;(视使用环境及相关操作而定)

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