凯智通 平板电脑DDR3一拖二测试治具

KZT158

凯智通 平板电脑DDR3一拖二测试治具 [复制链接]

产品特性：
※采用自动机压或手动翻盖结构，操作方便；
※探针的特殊头形突起能刺破锡球的氧化层，接触可靠，而不会损伤锡球；
※高精度的定位槽和导向孔，保证IC定位精确，测试准确率高
※采用浮板结构，维修方便，成本低价；
※绝缘材料：Torlon、PEI、PEEK、PPS、FR4;
※最小可做到的测试间距pitch=0.25mm;
※测试频率可达9.3GHZ
※用途：集成电路应用功能验证测试；
※可根据用户要求定各种阵列的自动/手动测试座
※专利设计，保证连接稳定可靠；
※采用进口探针和防静电材料制作费
※探针可以更换，维修方便；
※最小可做到的测度试间距pitch=0.4mm;
※测试频率可达9.3GHZ;
※用途：集成电路应用工能验证测试。
※可根据客户不同类型PCBA产品定制各种芯片测试治具
※应用范围：
适应于苹果、三星、全志、瑞芯微、炬力、盈方微、威盛、君正、晶晨等IC方案。

此帖出自信息发布论坛