DFN8(5*6)-1.27翻盖探针测试座\烧录座

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DFN8(5*6)-1.27翻盖探针测试座\烧录座 [复制链接]

DFN8(5*6)-1.27翻盖探针测试座\烧录座

 产品简介

A、产品用途:编程座、测试座，对DFN8的IC芯片进行烧写、测试

B、适用封装:新款 WSON\QFN\DFN8 引脚间距1.27mm

C、测试座:新款WSON\QFN\DFN8(5*6)-1.27

D、特点:采用U型顶针，接触稳定，性能更稳定

E、座子外壳采用特殊的工程塑胶，强度硬、寿命长（翻盖结构20000次）

F、我司可提供规格书（布板图）资料，PDF档\CAD

 规格尺寸

A、型号:新款WSON\QFN\DFN8(5*6)-1.27

B、引脚间距(mm):1.27

C、脚位:8

D、芯片尺寸:5*6

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