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一粒金砂(初级)

BGA169合金翻盖探针测试座 [复制链接]

BGA169合金翻盖探针测试座  详细介绍

产品特点及性能参数:
 
※ 采用手动翻盖式结构,操作方便; 
※ 上盖的IC压板采用旋压式结构,下压平稳,压力均匀,不移位; 
※ 探针的爪头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠; 
※ 高精度的定位槽,保IC定位精确; 
※ 采用浮板结构有球无球都能测, 
※ 探针材料, 
※ 探针可更换,维修方便,成本低。 
※ 绝缘材料制作; 
※ 最小可做到跳距pitch=0.35mm(引脚中心到中心的距离);

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