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一粒金砂(中级)

浅析大电流弹片微针模组在OLED屏幕测试的独特优势 [复制链接]

科技创新带动技术发展和产业变革,在显示屏领域,OLED屏幕技术的发展愈渐成熟。显示屏的观感和体验,会影响人们对电子化产品的优劣评价,直接反映出产品的品质。市场上平板电脑、手机、电视等设备大都是以LCD显示屏为主,而在高端电子设备领域,彩色电视和旗舰手机都已逐步配备了OLED的显示屏。

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(OLED显示屏)

OLED 屏幕厚度小于1mm,只有LCD屏幕的三分之一;在黑屏的情况下,OLED不发光,耗能更小;OLED屏幕可以实现弯曲、折叠,柔韧性更好,曲面屏、折叠屏的兴起就是因为使用了OLED屏幕;OLED屏幕的对比度、清晰度、屏幕像素更好。由于OLED屏幕材料组成的特点,它的价格也会更高,因此现在更多应用于一些高端机型上。随着科技智能化的发展,OLED屏幕的应用会更广泛。

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(OLED的屏幕)

无论是彩电、平板还是手机,OLED屏幕在出厂前,制造商一定会对其性能、工艺、质量方面进行严格的把控。产品在测试时用到的模组也同样需要经过严格的筛选,在小pitch领域,凯智通研发出的新型blade pin大电流弹片微针模组优势既明显又突出,绝对是不二之选。
Blade pin弹片微针模组体型轻薄,一体式弹片能够适应的pitch值最小可达0.15mm,范围在0.15mm-0.4mm之间。镍合金/铍铜的材质具有极佳的导电性能,可通过50A的大电流,在过流时电流传导于同一材质内,电阻恒定,几乎没有电流衰减,具有很好地连接功能。测试时性能稳定可靠。

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(blade pin弹片)

pogo pin探针适应的pitch值仅在0.3mm-0.4mm之间,在面对更小间距值时,探针尺寸无法达到要求,会造成误测现象。pogo pin探针由针头、针管、针尾构成,制作、装配、涂装工艺复杂,其表面覆盖的镀金厚度很难控制。在传导过程中仅能通过1A的额定电流,由于材质的不同,电流会在不同部位衰减,对测试造成影响。

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(pogo pin探针)

Blade pin弹片微针模组的测试寿命在20w次以上,制作时弹片一体成型,后期加硬镀金处理,接触形状和整体高度都很容易按照客户要求制作。连接公母座测试时,针对公母座的特性,分别运用不同的头型接触,保证测试的稳定性。

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(弹片一体成型)

Pogo pin探针的测试寿命在5w次左右,多配件组合结构,生产成本高,交期长,品质不稳定。连接母座测试时,几乎无法实现,稳定性极差,大多数时候只能采用轻触方案来临时应对。
任何产品更迭都是逐渐升级的过程,优胜劣汰,经得起考验的才能留下来。测试模组也是如此。传统的pogo pin探针模组不再占据优势,已经逐步被新型的blade pin大电流弹片微针模组所取代。相信任何一家企业都会选择性能更稳定、测试寿命更高、生产成本更低的那一款产品,而blade pin大电流弹片微针模组无疑是那个最好地选择!

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