1477|0

3836

帖子

19

TA的资源

纯净的硅(中级)

楼主
 

JTAG如何用于芯片测试呢?  [复制链接]

     其中用到的最主要部件就是边界扫描链。命名为边界扫描链,是由于它位置处于处理器的边界上。我们知道CPU是通过引脚与外围交流的,所有的数据都会通过引脚输入或者输出,而JTAG就是通过监控引脚的信号达到芯片测试的目的。而边界扫描链就是在引脚上的一个部件。如下图:

边界扫描链位置
边界扫描链位置

 

    通过边界扫描链,当有信号输入的时候,边界扫描链就能获取信号,当CPU要输出信号的时候,边界扫描链也能获取要输出的信号。另外,也可以通过边界扫描链来直接向外部输出信号。

    无论是信号的抓取还是输出,都需要有接口来保存这些信号,TDI 跟 TDO 就是做这样一些工作的。如图:

JTAG TDI TDO示意图
JTAG TDI TDO示意图

 

      本来边界扫描链保存着引脚上的信号,当通过TDI引脚输入我们自己的信号的时候,会发生沿上面红线方向的移位操作,即

TDI —> 边界扫描链 ——> TDO 于是就能从TDO获取边界扫描链上的信号,我们从TDI输入的信号也会到边界扫描链上去。

      在CPU跟外界通信的引脚上的数据无非就是 指令 跟 数据信号(包括地址跟数据) 两种。但是这两者的结合形成了一个完整的程序,能对它们进行监控就表明我们能进行程序的调试。一般的芯片都会提供几条独立的边界扫描链,对边界扫描链的控制主要是通过 TAP(Test Access Port) Controller来完成的。

 
点赞 关注

回复
举报
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

随便看看
查找数据手册?

EEWorld Datasheet 技术支持

相关文章 更多>>
关闭
站长推荐上一条 1/10 下一条

 
EEWorld订阅号

 
EEWorld服务号

 
汽车开发圈

 
机器人开发圈

About Us 关于我们 客户服务 联系方式 器件索引 网站地图 最新更新 手机版

站点相关: 国产芯 安防电子 汽车电子 手机便携 工业控制 家用电子 医疗电子 测试测量 网络通信 物联网

北京市海淀区中关村大街18号B座15层1530室 电话:(010)82350740 邮编:100190

电子工程世界版权所有 京B2-20211791 京ICP备10001474号-1 电信业务审批[2006]字第258号函 京公网安备 11010802033920号 Copyright © 2005-2025 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved
快速回复 返回顶部 返回列表